Specifications ispLSI 1024EA USE ispMA CH 4A5 FOR NEW 5V DESIGNS Symbol Parameter Min Max Units tbtcp" />
參數(shù)資料
型號(hào): ISPLSI 1024EA-200LT100
廠商: Lattice Semiconductor Corporation
文件頁(yè)數(shù): 7/13頁(yè)
文件大小: 0K
描述: IC PLD ISP 48I/O 10NS 100TQFP
標(biāo)準(zhǔn)包裝: 90
系列: ispLSI® 1000EA
可編程類型: 系統(tǒng)內(nèi)可編程
最大延遲時(shí)間 tpd(1): 4.5ns
電壓電源 - 內(nèi)部: 4.75 V ~ 5.25 V
邏輯元件/邏輯塊數(shù)目: 24
門數(shù): 4000
輸入/輸出數(shù): 48
工作溫度: 0°C ~ 70°C
安裝類型: 表面貼裝
封裝/外殼: 100-LQFP
供應(yīng)商設(shè)備封裝: 100-TQFP(14x14)
包裝: 托盤
其它名稱: ISPLSI1024EA-200LT100
3
Specifications ispLSI 1024EA
USE
ispMA
CH
4A5
FOR
NEW
5V
DESIGNS
Symbol
Parameter
Min
Max
Units
tbtcp
TCK [BSCAN test] clock pulse width
100
ns
tbtch
TCK [BSCAN test] pulse width high
50
ns
tbtcl
TCK [BSCAN test] pulse width low
50
ns
tbtsu
TCK [BSCAN test] setup time
20
ns
tbth
TCK [BSCAN test] hold time
25
ns
trf
TCK [BSCAN test] rise and fall time
50
mV/ns
tbtco
TAP controller falling edge of clock to valid output
25
ns
tbtoz
TAP controller falling edge of clock to data output disable
25
ns
tbtvo
TAP controller falling edge of clock to data output enable
25
ns
tbtcpsu
BSCAN test Capture register setup time
40
ns
tbtcph
BSCAN test Capture register hold time
25
ns
tbtuco
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to valid output
50
ns
tbtuoz
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to output disable
50
ns
tbtuov
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to output enable
50
ns
Figure 2. Boundary Scan Waveforms and Timing Specifications
TMS
TDI
TCK
TDO
Data to be
captured
Data to be
driven out
Valid Data
Data Captured
btsu
T
bth
T
btcl
T
btch
T
btcp
T
btvo
T
btco
T
btoz
T
btcpsu
T
btcph
T
btuov
T
btuco
T
btuoz
T
Boundary Scan
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