Specifications ispLSI 1032EA USE ispMA CH 4A5 FOR NEW 5V DESIGNS Symbol Parameter Min Max Units tbtcp" />
參數(shù)資料
型號(hào)： ISPLSI 1032EA-100LT100
廠商： Lattice Semiconductor Corporation
文件頁(yè)數(shù)： 10/16頁(yè)
文件大?。?/td> 0K
描述： IC PLD ISP 64I/O 10NS 100TQFP
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 90
系列： ispLSI® 1000EA
可編程類(lèi)型： 系統(tǒng)內(nèi)可編程
最大延遲時(shí)間 tpd(1)： 10.0ns
電壓電源 - 內(nèi)部： 4.75 V ~ 5.25 V
邏輯元件/邏輯塊數(shù)目： 32
門(mén)數(shù)： 6000
輸入/輸出數(shù)： 64
工作溫度： 0°C ~ 70°C
安裝類(lèi)型： 表面貼裝
封裝/外殼： 100-LQFP
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 100-TQFP（14x14）
包裝： 托盤(pán)
其它名稱(chēng)： ISPLSI1032EA-100LT100
3
Specifications ispLSI 1032EA
USE
ispMA
CH
4A5
FOR
NEW
5V
DESIGNS
Symbol
Parameter
Min
Max
Units
tbtcp
TCK [BSCAN test] clock pulse width
100
–
ns
tbtch
TCK [BSCAN test] pulse width high
50
–
ns
tbtcl
TCK [BSCAN test] pulse width low
50
–
ns
tbtsu
TCK [BSCAN test] setup time
20
–
ns
tbth
TCK [BSCAN test] hold time
25
–
ns
trf
TCK [BSCAN test] rise and fall time
50
–
mV/ns
tbtco
TAP controller falling edge of clock to valid output
–
25
ns
tbtoz
TAP controller falling edge of clock to data output disable
–
25
ns
tbtvo
TAP controller falling edge of clock to data output enable
–
25
ns
tbtcpsu
BSCAN test Capture register setup time
40
–
ns
tbtcph
BSCAN test Capture register hold time
25
–
ns
tbtuco
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to valid output
–
50
ns
tbtuoz
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to output disable
–
50
ns
tbtuov
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to output enable
–
50
ns
Figure 2. Boundary Scan Waveforms and Timing Specifications
TMS
TDI
TCK
TDO
Data to be
captured
Data to be
driven out
Valid Data
Data Captured
btsu
T
bth
T
btcl
T
btch
T
btcp
T
btvo
T
btco
T
btoz
T
btcpsu
T
btcph
T
btuov
T
btuco
T
btuoz
T
Boundary Scan
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PDF描述
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參數(shù)描述
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