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參數(shù)資料
| 型號： | ISPLSI 5384VE-125LB272I |
| 廠商： | Lattice Semiconductor Corporation |
| 文件頁數(shù)： | 22/22頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC PLD ISP 192I/O 7.5NS 272BGA |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 40 |
| 系列： | ispLSI® 5000VE |
| 可編程類型： | 系統(tǒng)內(nèi)可編程 |
| 最大延遲時間 tpd(1)： | 7.5ns |
| 電壓電源 - 內(nèi)部： | 3 V ~ 3.6 V |
| 邏輯元件/邏輯塊數(shù)目： | 12 |
| 宏單元數(shù)： | 384 |
| 門數(shù)： | 18000 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 192 |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 272-BBGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 272-BGA（27x27） |
| 包裝： | 托盤 |
| 其它名稱： | ISPLSI5384VE-125LB272I |
Specifications ispLSI 5384VE
9
Figure 8. Boundary Scan Waveforms and Timing Specifications
TMS
TDI
TCK
TDO
Data to be
captured
Data to be
driven out
Valid Data
Data Captured
btsu
T
bth
T
btcl
T
btch
T
btcp
T
btvo
T
btco
T
btoz
T
btcpsu
T
btcph
T
btuov
T
btuco
T
btuoz
T
SYMBOL
PARAMETER
MIN
MAX
UNITS
tbtcp
TCK [BSCAN test] clock pulse width
125
–
ns
tbtch
TCK [BSCAN test] pulse width high
62.5
–
ns
tbtcl
TCK [BSCAN test] pulse width low
62.5
–
ns
tbtsu
TCK [BSCAN test] setup time
25
–
ns
tbth
TCK [BSCAN test] hold time
25
–
ns
trf
TCK [BSCAN test] rise and fall time
50
–
mV/ns
tbtco
TAP controller falling edge of clock to valid output
–25
ns
tbtoz
TAP controller falling edge of clock to data output disable
–25
ns
tbtvo
TAP controller falling edge of clock to data output enable
–25
ns
tbtcpsu
BSCAN test Capture register setup time
25
–
ns
tbtcph
BSCAN test Capture register hold time
25
–
ns
tbtuco
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to valid output
–50
ns
tbtuoz
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to output disable
–50
ns
tbtuov
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to output enable
–50
ns
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| P51-300-A-I-M12-5V-000-000 | SENS 300PSI 7/16-20 UNF 1-5V |
| P51-500-A-M-D-4.5V-000-000 | SENSOR 500PSI M10-1.0 6G .5-4.5V |
| BAT54BRW-7-F | DIODE SCHOTTKY ARR DL 30V SOT363 |
| UB26KKW01N-B | SWITCH PUSHBUTTON DPDT 5A 125V |
| P51-100-G-Y-M12-4.5V-000-000 | SENSOR 100PSI 7/16-20-2B .5-4.5V |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| ISPLSI5384VE-125LB272I | 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲類型:EEPROM 大電池數(shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100 |
| ISPLSI5384VE-125LF256 | 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲類型:EEPROM 大電池數(shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100 |
| ISPLSI5384VE-125LF256I | 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲類型:EEPROM 大電池數(shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100 |
| ISPLSI5384VE-165LB272 | 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲類型:EEPROM 大電池數(shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100 |
| ISPLSI5384VE-165LF256 | 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲類型:EEPROM 大電池數(shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100 |
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