參數(shù)資料
型號： LAMXO640C-3FTN256E
廠商： Lattice Semiconductor Corporation
文件頁數(shù)： 38/77頁
文件大?。?/td> 0K
描述： IC FPGA 640LUTS 256TQFP
標準包裝： 90
系列： LA-MachXO
可編程類型： 系統(tǒng)內(nèi)可編程
最大延遲時間 tpd(1)： 4.9ns
電壓電源 - 內(nèi)部： 1.71 V ~ 3.465 V
宏單元數(shù)： 320
輸入/輸出數(shù)： 159
工作溫度： -40°C ~ 125°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 256-LBGA
供應商設備封裝： 256-FTBGA（17x17）
包裝： 托盤
3-17
DC and Switching Characteristics
Lattice Semiconductor
LA-MachXO Automotive Family Data Sheet
Flash Download Time
JTAG Port Timing Specications
Over Recommended Operating Conditions
Figure 3-5. JTAG Port Timing Waveforms
Symbol
Parameter
Min.
Typ.
Max.
Units
tREFRESH
Minimum VCC or VCCAUX
(later of the two supplies)
to Device I/O Active
LCMXO256
—
0.4
ms
LCMXO640
—
0.6
ms
LCMXO1200
—
0.8
ms
LCMXO2280
—
1.0
ms
Symbol
Parameter
Min.
Max.
Units
fMAX
TCK [BSCAN] clock frequency
—
25
MHz
tBTCP
TCK [BSCAN] clock pulse width
40
—
ns
tBTCPH
TCK [BSCAN] clock pulse width high
20
—
ns
tBTCPL
TCK [BSCAN] clock pulse width low
20
—
ns
tBTS
TCK [BSCAN] setup time
8
—
ns
tBTH
TCK [BSCAN] hold time
10
—
ns
tBTRF
TCK [BSCAN] rise/fall time
50
—
mV/ns
tBTCO
TAP controller falling edge of clock to output valid
—
10
ns
tBTCODIS
TAP controller falling edge of clock to output disabled
—
10
ns
tBTCOEN
TAP controller falling edge of clock to output enabled
—
10
ns
tBTCRS
BSCAN test capture register setup time
8
—
ns
tBTCRH
BSCAN test capture register hold time
25
—
ns
tBUTCO
BSCAN test update register, falling edge of clock to output valid
—
25
ns
tBTUODIS
BSCAN test update register, falling edge of clock to output disabled
—
25
ns
tBTUPOEN
BSCAN test update register, falling edge of clock to output enabled
—
25
ns
Rev. A 0.19
TMS
TDI
TCK
TDO
Data to be
captured
from I/O
Data to be
driven out
to I/O
a
t
a
D
d
il
a
V
a
t
a
D
d
il
a
V
a
t
a
D
d
il
a
V
a
t
a
D
d
il
a
V
Data Captured
tBTCPH
tBTCPL
tBTCOEN
tBTCRS
tBTUPOEN
tBUTCO
tBTUODIS
tBTCRH
tBTCO
tBTCODIS
tBTS
tBTH
tBTCP
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PDF描述
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參數(shù)描述
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