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參數(shù)資料
| 型號： | LFX200B-05FN256C |
| 廠商： | Lattice Semiconductor Corporation |
| 文件頁數(shù)： | 80/119頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FPGA 200K GATES 256-BGA |
| 標準包裝： | 90 |
| 系列： | ispXPGA® |
| 邏輯元件/單元數(shù)： | 2704 |
| RAM 位總計： | 113664 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 160 |
| 門數(shù)： | 210000 |
| 電源電壓： | 2.3 V ~ 3.6 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 256-BGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 256-FPBGA（17x17） |
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Lattice Semiconductor
ispXPGA Family Data Sheet
59
Switching Test Conditions
Figure 25 shows the output test load that is used for AC testing. The specific values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Table 7.
Figure 25. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
Table 7. Text Fixture Required Components
Test Condition
R1
R2
CL
Timing Reference
VCCO
LVCMOS I/O, (L -> H, H -> L)
106
35pF
LVCMOS 3.3 = VCCO/2
LVCMOS 3.3 = 3.0V
LVCMOS 2.5 = VCCO/2
LVCMOS 2.5 = 2.3V
LVCMOS 1.8 = VCCO/2
LVCMOS 1.8 = 1.65V
Default LVCMOS 1.8 I/O (Z -> H)
×
106
35pF
0.9V
1.65V
Default LVCMOS 1.8 I/O (Z -> L)
106
×
35pF
0.9V
1.65V
Default LVCMOS 1.8 I/O (H -> Z)
×
106
5pF
VOH - 0.3
1.65V
Default LVCMOS 1.8 I/O (L -> Z)
106
×
5pF
VOL + 0.3
1.65V
Note: Output test conditions for all other interfaces are determined by the respective standards.
VCCO
R1
R2
CL*
Device
Output
*CL includes test fixture and probe capacitance.
Test
Point
SELECT
DEVICES
DISCONTINUED
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| LFXP20E-5F484C | IC FPGA 19.7KLUTS 340I/O 484-BGA |
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相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
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| LFX200B-05FN516C1 | 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場可編程門陣列 RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
| LFX200B-3F256C | 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:ispXPGA Family |
| LFX200B-3F256I | 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:ispXPGA Family |
| LFX200B-3F516C | 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:ispXPGA Family |
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