參數(shù)資料
型號(hào)： LFXP6E-4FN256I
廠商： Lattice Semiconductor Corporation
文件頁(yè)數(shù)： 324/397頁(yè)
文件大?。?/td> 0K
描述： IC FPGA 5.8KLUTS 256FPBGA
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 90
系列： XP
邏輯元件/單元數(shù)： 6000
RAM 位總計(jì)： 73728
輸入/輸出數(shù)： 188
電源電壓： 1.14 V ~ 1.26 V
安裝類型： 表面貼裝
工作溫度： -40°C ~ 100°C
封裝/外殼： 256-BGA
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 256-FPBGA（17x17）
第1頁(yè)第2頁(yè)第3頁(yè)第4頁(yè)第5頁(yè)第6頁(yè)第7頁(yè)第8頁(yè)第9頁(yè)第10頁(yè)第11頁(yè)第12頁(yè)第13頁(yè)第14頁(yè)第15頁(yè)第16頁(yè)第17頁(yè)第18頁(yè)第19頁(yè)第20頁(yè)第21頁(yè)第22頁(yè)第23頁(yè)第24頁(yè)第25頁(yè)第26頁(yè)第27頁(yè)第28頁(yè)第29頁(yè)第30頁(yè)第31頁(yè)第32頁(yè)第33頁(yè)第34頁(yè)第35頁(yè)第36頁(yè)第37頁(yè)第38頁(yè)第39頁(yè)第40頁(yè)第41頁(yè)第42頁(yè)第43頁(yè)第44頁(yè)第45頁(yè)第46頁(yè)第47頁(yè)第48頁(yè)第49頁(yè)第50頁(yè)第51頁(yè)第52頁(yè)第53頁(yè)第54頁(yè)第55頁(yè)第56頁(yè)第57頁(yè)第58頁(yè)第59頁(yè)第60頁(yè)第61頁(yè)第62頁(yè)第63頁(yè)第64頁(yè)第65頁(yè)第66頁(yè)第67頁(yè)第68頁(yè)第69頁(yè)第70頁(yè)第71頁(yè)第72頁(yè)第73頁(yè)第74頁(yè)第75頁(yè)第76頁(yè)第77頁(yè)第78頁(yè)第79頁(yè)第80頁(yè)第81頁(yè)第82頁(yè)第83頁(yè)第84頁(yè)第85頁(yè)第86頁(yè)第87頁(yè)第88頁(yè)第89頁(yè)第90頁(yè)第91頁(yè)第92頁(yè)第93頁(yè)第94頁(yè)第95頁(yè)第96頁(yè)第97頁(yè)第98頁(yè)第99頁(yè)第100頁(yè)第101頁(yè)第102頁(yè)第103頁(yè)第104頁(yè)第105頁(yè)第106頁(yè)第107頁(yè)第108頁(yè)第109頁(yè)第110頁(yè)第111頁(yè)第112頁(yè)第113頁(yè)第114頁(yè)第115頁(yè)第116頁(yè)第117頁(yè)第118頁(yè)第119頁(yè)第120頁(yè)第121頁(yè)第122頁(yè)第123頁(yè)第124頁(yè)第125頁(yè)第126頁(yè)第127頁(yè)第128頁(yè)第129頁(yè)第130頁(yè)第131頁(yè)第132頁(yè)第133頁(yè)第134頁(yè)第135頁(yè)第136頁(yè)第137頁(yè)第138頁(yè)第139頁(yè)第140頁(yè)第141頁(yè)第142頁(yè)第143頁(yè)第144頁(yè)第145頁(yè)第146頁(yè)第147頁(yè)第148頁(yè)第149頁(yè)第150頁(yè)第151頁(yè)第152頁(yè)第153頁(yè)第154頁(yè)第155頁(yè)第156頁(yè)第157頁(yè)第158頁(yè)第159頁(yè)第160頁(yè)第161頁(yè)第162頁(yè)第163頁(yè)第164頁(yè)第165頁(yè)第166頁(yè)第167頁(yè)第168頁(yè)第169頁(yè)第170頁(yè)第171頁(yè)第172頁(yè)第173頁(yè)第174頁(yè)第175頁(yè)第176頁(yè)第177頁(yè)第178頁(yè)第179頁(yè)第180頁(yè)第181頁(yè)第182頁(yè)第183頁(yè)第184頁(yè)第185頁(yè)第186頁(yè)第187頁(yè)第188頁(yè)第189頁(yè)第190頁(yè)第191頁(yè)第192頁(yè)第193頁(yè)第194頁(yè)第195頁(yè)第196頁(yè)第197頁(yè)第198頁(yè)第199頁(yè)第200頁(yè)第201頁(yè)第202頁(yè)第203頁(yè)第204頁(yè)第205頁(yè)第206頁(yè)第207頁(yè)第208頁(yè)第209頁(yè)第210頁(yè)第211頁(yè)第212頁(yè)第213頁(yè)第214頁(yè)第215頁(yè)第216頁(yè)第217頁(yè)第218頁(yè)第219頁(yè)第220頁(yè)第221頁(yè)第222頁(yè)第223頁(yè)第224頁(yè)第225頁(yè)第226頁(yè)第227頁(yè)第228頁(yè)第229頁(yè)第230頁(yè)第231頁(yè)第232頁(yè)第233頁(yè)第234頁(yè)第235頁(yè)第236頁(yè)第237頁(yè)第238頁(yè)第239頁(yè)第240頁(yè)第241頁(yè)第242頁(yè)第243頁(yè)第244頁(yè)第245頁(yè)第246頁(yè)第247頁(yè)第248頁(yè)第249頁(yè)第250頁(yè)第251頁(yè)第252頁(yè)第253頁(yè)第254頁(yè)第255頁(yè)第256頁(yè)第257頁(yè)第258頁(yè)第259頁(yè)第260頁(yè)第261頁(yè)第262頁(yè)第263頁(yè)第264頁(yè)第265頁(yè)第266頁(yè)第267頁(yè)第268頁(yè)第269頁(yè)第270頁(yè)第271頁(yè)第272頁(yè)第273頁(yè)第274頁(yè)第275頁(yè)第276頁(yè)第277頁(yè)第278頁(yè)第279頁(yè)第280頁(yè)第281頁(yè)第282頁(yè)第283頁(yè)第284頁(yè)第285頁(yè)第286頁(yè)第287頁(yè)第288頁(yè)第289頁(yè)第290頁(yè)第291頁(yè)第292頁(yè)第293頁(yè)第294頁(yè)第295頁(yè)第296頁(yè)第297頁(yè)第298頁(yè)第299頁(yè)第300頁(yè)第301頁(yè)第302頁(yè)第303頁(yè)第304頁(yè)第305頁(yè)第306頁(yè)第307頁(yè)第308頁(yè)第309頁(yè)第310頁(yè)第311頁(yè)第312頁(yè)第313頁(yè)第314頁(yè)第315頁(yè)第316頁(yè)第317頁(yè)第318頁(yè)第319頁(yè)第320頁(yè)第321頁(yè)第322頁(yè)第323頁(yè)當(dāng)前第324頁(yè)第325頁(yè)第326頁(yè)第327頁(yè)第328頁(yè)第329頁(yè)第330頁(yè)第331頁(yè)第332頁(yè)第333頁(yè)第334頁(yè)第335頁(yè)第336頁(yè)第337頁(yè)第338頁(yè)第339頁(yè)第340頁(yè)第341頁(yè)第342頁(yè)第343頁(yè)第344頁(yè)第345頁(yè)第346頁(yè)第347頁(yè)第348頁(yè)第349頁(yè)第350頁(yè)第351頁(yè)第352頁(yè)第353頁(yè)第354頁(yè)第355頁(yè)第356頁(yè)第357頁(yè)第358頁(yè)第359頁(yè)第360頁(yè)第361頁(yè)第362頁(yè)第363頁(yè)第364頁(yè)第365頁(yè)第366頁(yè)第367頁(yè)第368頁(yè)第369頁(yè)第370頁(yè)第371頁(yè)第372頁(yè)第373頁(yè)第374頁(yè)第375頁(yè)第376頁(yè)第377頁(yè)第378頁(yè)第379頁(yè)第380頁(yè)第381頁(yè)第382頁(yè)第383頁(yè)第384頁(yè)第385頁(yè)第386頁(yè)第387頁(yè)第388頁(yè)第389頁(yè)第390頁(yè)第391頁(yè)第392頁(yè)第393頁(yè)第394頁(yè)第395頁(yè)第396頁(yè)第397頁(yè)
PCB Layout Recommendations
Lattice Semiconductor
for BGA Packages
18-15
reflow process. This is due to the surface tension of the solder and flux in its molten state pulling each ball into the
center of the pad.
Figure 18-14. Misalignment of BGA Balls vs. QPF Leads
Controlling the oven re-flow profile is one of the most important assembly parameters for consistent and reliable
BGA placement. Profiles are typically tested on a pre-run. One or two panels are run to dial in the process, then
visual and X-ray inspection equipment are used for verification.
BGA packages present numerous benefits previously unobtainable in surface mount packaging technology. BGAs
provide higher pin counts in a much smaller area than was previous possible. No longer is the package design lim-
ited to connections along the periphery on the outside quadrants of the package edge like a PQFP or TQFP out-
line. Fully populated ball grid arrays with pitches as small as 0.4 mm are available.
Some BGA devices are arranged with de-populated interconnect near or around the center. These are dependent
on the die size and number of pins. The area void of interconnect in the middle of the array has some advantages,
it can be used for escape routing vias or tying directly to the ground or power planes.
Although the packages can be quite complex and densely populated, all of these packages receive strict quality
and reliability testing and are widely accepted today by designers and PCB fabrication/assembly houses. All of this
is due to advances in equipment and technology that have allowed a smooth transition into the assembly flow.
BGA Package Test and Assembly
How can a pad/ball/pin be tested that can’t be seen? All connections are hidden under the substrate at the ball
interconnect, making it impossible to directly probe or test. To address this limitation, Lattice programmable devices
provide JTAG, BSCAN, and boundary scan cells that allow electronic test and continuity of each pin with a bound-
ary scan tester. This can be embedded into the system itself or driven externally from a high-speed test head. The
boundary scan can test the pins or board for simple continuity tests or full functional test by shifting in test patterns
through the JTAG port.
For debug or prototype boards it may be necessary to place test points, open vias, or pads to have access to a
given set of pins in order to drive, over-drive or observe a given set of signals. These can be very small, as many
相關(guān)PDF資料
PDF描述
ACM40DRST CONN EDGECARD 80POS DIP .156 SLD
LFXP6E-5FN256C IC FPGA 5.8KLUTS 256FPBGA
ASM28DRAN CONN EDGECARD 56POS .156 R/A
LFXP6C-5FN256C IC FPGA 5.8KLUTS 188I/O 256-BGA
ASM28DRAH CONN EDGECARD 56POS .156 R/A
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù)
參數(shù)描述
LFXP6E-4Q208C 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列 5.8K LUTs 142 IO 1.2 V -4 Spd RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256
LFXP6E-4Q208I 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列 5.8K LUTs 142 IO 1.2 V -4 Spd I RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256
LFXP6E-4QN208C 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列 5.8K LUTs 142 IO 1.2 V -4 Spd RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256
LFXP6E-4QN208I 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列 5.8K LUTs 142 IO 1.2 V -4 Spd I RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256
LFXP6E-4T144C 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列 5.8K LUTs 100 IO 1.2 V -4 Spd RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256
發(fā)布緊急采購(gòu)，3分鐘左右您將得到回復(fù)。

采購(gòu)需求

(若只采購(gòu)一條型號(hào)，填寫一行即可)

發(fā)布成功！您可以繼續(xù)發(fā)布采購(gòu)。也可以進(jìn)入我的后臺(tái)，查看報(bào)價(jià)

發(fā)布成功！您可以繼續(xù)發(fā)布采購(gòu)。也可以進(jìn)入我的后臺(tái)，查看報(bào)價(jià)

*型號(hào) *數(shù)量 廠商 批號(hào) 封裝
添加更多采購(gòu)

我的聯(lián)系方式

*
*
*