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參數(shù)資料
| 型號： | LFXP6E-5TN144C |
| 廠商： | Lattice Semiconductor Corporation |
| 文件頁數(shù)： | 362/397頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FPGA 5.8KLUTS 144TQFP |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 60 |
| 系列： | XP |
| 邏輯元件/單元數(shù)： | 6000 |
| RAM 位總計(jì)： | 73728 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 100 |
| 電源電壓： | 1.14 V ~ 1.26 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 144-LQFP |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 144-TQFP（20x20） |
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3-27
DC and Switching Characteristics
Lattice Semiconductor
LatticeXP Family Data Sheet
Flash Download Time
JTAG Port Timing Specifications
Over Recommended Operating Conditions
Figure 3-12. JTAG Port Timing Waveforms
Symbol
Parameter
Min.
Typ.
Max.
Units
tREFRESH
PROGRAMN Low-to-
High. Transition to Done
High.
LFXP3
—
1.1
1.7
ms
LFXP6
—
1.4
2.0
ms
LFXP10
—
0.9
1.5
ms
LFXP15
—
1.1
1.7
ms
LFXP20
—
1.3
1.9
ms
Symbol
Parameter
Min.
Max.
Units
fMAX
—25
MHz
tBTCP
TCK [BSCAN] clock pulse width
40
—
ns
tBTCPH
TCK [BSCAN] clock pulse width high
20
—
ns
tBTCPL
TCK [BSCAN] clock pulse width low
20
—
ns
tBTS
TCK [BSCAN] setup time
10
—
ns
tBTH
TCK [BSCAN] hold time
8
—
ns
tBTRF
TCK [BSCAN] rise/fall time
50
—
ns
tBTCO
TAP controller falling edge of clock to valid output
—
10
ns
tBTCODIS
TAP controller falling edge of clock to valid disable
—
10
ns
tBTCOEN
TAP controller falling edge of clock to valid enable
—
10
ns
tBTCRS
BSCAN test capture register setup time
8
—
ns
tBTCRH
BSCAN test capture register hold time
25
—
ns
tBUTCO
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid output
—
25
ns
tBTUODIS
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid disable
—
25
ns
tBTUPOEN
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid enable
—
25
ns
Timing v.F0.11
TMS
TDI
TCK
TDO
Data to be
captured
from I/O
Data to be
driven out
to I/O
a
t
a
D
d
il
a
V
a
t
a
D
d
il
a
V
a
t
a
D
d
il
a
V
a
t
a
D
d
il
a
V
Data Captured
tBTCPH
tBTCPL
tBTCOEN
tBTCRS
tBTUPOEN
tBUTCO
tBTUODIS
tBTCRH
tBTCO
tBTCODIS
tBTS
tBTH
tBTCP
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