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參數(shù)資料
| 型號： | M1AGLE3000V5-FG484 |
| 廠商： | Microsemi SoC |
| 文件頁數(shù)： | 131/166頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FPGA 1KB FLASH 3M 484-FBGA |
| 標準包裝： | 60 |
| 系列： | IGLOOe |
| 邏輯元件/單元數(shù)： | 75264 |
| RAM 位總計： | 516096 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 341 |
| 門數(shù)： | 3000000 |
| 電源電壓： | 1.425 V ~ 1.575 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 70°C |
| 封裝/外殼： | 484-BGA |
| 供應商設備封裝： | 484-FPBGA（23x23） |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁當前第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁第158頁第159頁第160頁第161頁第162頁第163頁第164頁第165頁第166頁
IGLOOe Low Power Flash FPGAs
Revision 13
2-53
2.5 V GTL
Gunning Transceiver Logic is a high-speed bus standard (JESD8-3). It provides a differential amplifier
input buffer and an open-drain output buffer. The VCCI pin should be connected to 2.5 V.
Timing Characteristics
1.5 V DC Core Voltage
1.2 V DC Core Voltage
Table 2-77 Minimum and Maximum DC Input and Output Levels
2.5 GTL
VIL
VIH
VOL
VOH IOL IOH
IOSH
IOSL
IIL1 IIH2
Drive
Strength
Min.
V
Max.
V
Min.
V
Max.
V
Max.
V
Min.
VmA mA
Max.
mA3
Max.
mA3
A4 A4
20 mA5
–0.3
VREF – 0.05 VREF + 0.05
3.6
0.4
–
20 20
169
124
10 10
Notes:
1. IIL is the input leakage current per I/O pin over recommended operating conditions where –0.3 V < VIN < VIL.
2. IIH is the input leakage current per I/O pin over recommended operating conditions VIH < VIN < VCCI. Input current is
larger when operating outside recommended ranges.
3. Currents are measured at high temperature (100°C junction temperature) and maximum voltage.
4. Currents are measured at 85°C junction temperature.
5. Output drive strength is below JEDEC specification.
Figure 2-14 AC Loading
Table 2-78 AC Waveforms, Measuring Points, and Capacitive Loads
Input Low (V)
Input High (V)
Measuring Point* (V)
VREF (typ.) (V)
VTT (typ.) (V)
CLOAD (pF)
VREF – 0.05
VREF + 0.05
0.8
1.2
10
Note: *Measuring point = Vtrip. See Table 2-23 on page 2-23 for a complete table of trip points.
Test Point
10 pF
25
GTL
VTT
Table 2-79 2.5 V GTL – Applies to 1.5 V DC Core Voltage
Commercial-Case Conditions: TJ = 70°C, Worst-Case VCC = 1.425 V,
Worst-Case VCCI = 3.0 V VREF = 0.8 V
Speed Grade
tDOUT
tDP
tDIN
tPY
tEOUT
tZL
tZH
tLZ
tHZ
tZLS
tZHS
Units
Std.
0.98
1.90
0.19
2.04
0.67
1.94
1.87
5.57
5.50
ns
Note: For specific junction temperature and voltage supply levels, refer to Table 2-6 on page 2-6 for derating values.
Table 2-80 2.5 V GTL – Applies to 1.2 V DC Core Voltage
Commercial-Case Conditions: TJ = 70°C, Worst-Case VCC = 1.14 V,
Worst-Case VCCI = 3.0 V VREF = 0.8 V
Speed Grade
tDOUT
tDP
tDIN
tPY
tEOUT
tZL
tZH
tLZ
tHZ
tZLS
tZHS
Units
Std.
1.55
2.16
0.26
2.35
1.10
2.20
2.13
8.01
7.94
ns
Note: For specific junction temperature and voltage supply levels, refer to Table 2-7 on page 2-6 for derating values.
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