參數(shù)資料
型號： MB9BF416TBGL
廠商： FUJITSU LTD
元件分類： 微控制器/微處理器
英文描述： 32-BIT, FLASH, RISC MICROCONTROLLER, PBGA192
封裝： 12 X 12 MM, 1.45 MM HEIGHT, 0.80 MM PITCH, LEAD FREE, PLASTIC, FBGA-192
文件頁數(shù)： 42/116頁
文件大?。?/td> 1064K
代理商： MB9BF416TBGL
31
MB9B410T Series
FUJITSU SEMICONDUCTOR CONFIDENTIAL
r1.0
DS706-00018-0v01-E
Pin No
Module
Pin name
Function
LQFP-176 LQFP-144
BGA-192
TIOA14_0
151
121
D8
TIOA14_1
78
-
N10
TIOA14_2
Base timer ch.14 TIOA pin
102
86
J10
TIOB14_0
164
134
B6
TIOB14_1
79
-
L10
Base
Timer
14
TIOB14_2
Base timer ch.14 TIOB pin
103
87
J9
TIOA15_0
73
65
N9
TIOA15_1
80
-
K10
TIOA15_2
Base timer ch.15 TIOA pin
104
88
H10
TIOB15_0
74
66
M9
TIOB15_1
81
-
M10
Base
Timer
15
TIOB15_2
Base timer ch.15 TIOB pin
105
89
H9
TX0_0
65
57
J6
TX0_1
32
-
J5
TX0_2
CAN interface ch.0 TX output
7
D1
RX0_0
66
58
N8
RX0_1
33
-
J4
CAN 0
RX0_2
CAN interface ch.0 RX output
6
D2
TX1_0
122
98
E10
TX1_1
23
G5
TX1_2
CAN interface ch.1 TX output
92
76
L13
RX1_0
123
99
E11
RX1_1
22
G4
CAN 1
RX1_2
CAN interface ch.1 RX output
91
75
M12
SWCLK
Serial wire debug interface clock input
135
111
A12
SWDIO
Serial wire debug interface data input /
output
137
113
B12
SWO
Serial wire viewer output
138
114
B11
TCK
J-TAG test clock input
135
111
A12
TDI
J-TAG test data input
136
112
C12
TDO
J-TAG debug data output
138
114
B11
TMS
J-TAG test mode state input/output
137
113
B12
TRACECLK
Trace CLK output of ETM
12
E4
TRACED0
8
D3
TRACED1
9
D4
TRACED2
10
E2
TRACED3
Trace data output of ETM
11
E3
Debugger
TRSTX
J-TAG test reset Input
134
110
B13
相關(guān)PDF資料
PDF描述
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MC13226VR2 SPECIALTY MICROPROCESSOR CIRCUIT, PBGA99
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參數(shù)描述
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MB9BF504RPMC 制造商:FUJITSU 制造商全稱:Fujitsu Component Limited. 功能描述:Family of 32-bit MCUs
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