參數(shù)資料
型號(hào)： MCF52110CAF80
廠商： Freescale Semiconductor
文件頁數(shù)： 33/56頁
文件大?。?/td> 0K
描述： IC MCU 128K FLASH 80MHZ 100LQFP
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 90
系列： MCF521xx
核心處理器： Coldfire V2
芯體尺寸： 32-位
速度： 66MHz
連通性： I²C，SPI，UART/USART
外圍設(shè)備： DMA，LVD，POR，PWM，WDT
輸入/輸出數(shù)： 63
程序存儲(chǔ)器容量： 128KB（128K x 8）
程序存儲(chǔ)器類型： 閃存
RAM 容量： 16K x 8
電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： 3 V ~ 3.6 V
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器： A/D 8x12b
振蕩器型： 內(nèi)部
工作溫度： -40°C ~ 85°C
封裝/外殼： 100-LQFP
包裝： 托盤
配用： M5211DEMO-ND - KIT DEMO FOR MCF5211
MCF52110 ColdFire Microcontroller, Rev. 1
Electrical Characteristics
Freescale Semiconductor
39
Figure 10. Test Clock Input Timing
Table 36. JTAG and Boundary Scan Timing
Num
Characteristics1
1 JTAG_EN is expected to be a static signal. Hence, it is not associated with any timing.
Symbol
Min
Max
Unit
J1
TCLK frequency of operation
fJCYC
DC
1/4
fsys/2
J2
TCLK cycle period
tJCYC
4
t
CYC
—ns
J3
TCLK clock pulse width
tJCW
26
—
ns
J4
TCLK rise and fall times
tJCRF
03
ns
J5
Boundary scan input data setup time to TCLK rise
tBSDST
4—
ns
J6
Boundary scan input data hold time after TCLK rise
tBSDHT
26
—
ns
J7
TCLK low to boundary scan output data valid
tBSDV
033
ns
J8
TCLK low to boundary scan output high Z
tBSDZ
033
ns
J9
TMS, TDI input data setup time to TCLK rise
tTAPBST
4—
ns
J10
TMS, TDI Input data hold time after TCLK rise
tTAPBHT
10
—
ns
J11
TCLK low to TDO data valid
tTDODV
026
ns
J12
TCLK low to TDO high Z
tTDODZ
08
ns
J13
TRST assert time
tTRSTAT
100
—
ns
J14
TRST setup time (negation) to TCLK high
tTRSTST
10
—
ns
TCLK
VIL
VIH
J3
J4
J2
(input)
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PDF描述
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MCF52110CVM80 功能描述:IC MCU 128K FLASH 80MHZ 81MAPBGA RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - 微控制器， 系列:MCF521xx 標(biāo)準(zhǔn)包裝:1 系列:AVR® ATmega 核心處理器:AVR 芯體尺寸:8-位 速度:16MHz 連通性:I²C，SPI，UART/USART 外圍設(shè)備:欠壓檢測(cè)/復(fù)位，POR，PWM，WDT 輸入/輸出數(shù):32 程序存儲(chǔ)器容量:32KB（16K x 16） 程序存儲(chǔ)器類型:閃存 EEPROM 大小:1K x 8 RAM 容量:2K x 8 電壓 - 電源 (Vcc/Vdd):2.7 V ~ 5.5 V 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器:A/D 8x10b 振蕩器型:內(nèi)部 工作溫度:-40°C ~ 125°C 封裝/外殼:44-TQFP 包裝:剪切帶 (CT) 其它名稱:ATMEGA324P-B15AZCT
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