參數(shù)資料
型號： MSP430F4783IPZ
廠商： Texas Instruments
文件頁數(shù)： 20/80頁
文件大?。?/td> 0K
描述： IC MCU 16BIT 48KB FLASH 100LQFP
產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： The Ultra-Low Power MSP430
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標(biāo)準(zhǔn)包裝： 90
系列： MSP430x4xx
核心處理器： RISC
芯體尺寸： 16-位
速度： 16MHz
連通性： I²C，IrDA，LIN，SCI，SPI，UART/USART
外圍設(shè)備： 欠壓檢測/復(fù)位，LCD，POR，PWM，WDT
輸入/輸出數(shù)： 72
程序存儲器容量： 48KB（48K x 8 + 256B）
程序存儲器類型： 閃存
RAM 容量： 2K x 8
電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： 1.8 V ~ 3.6 V
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器： A/D 3x16b
振蕩器型： 內(nèi)部
工作溫度： -40°C ~ 85°C
封裝/外殼： 100-LQFP
包裝： 管件
配用： MSP-FET430U100-ND - KIT PROG/DEBUG MSP430F 100PIN PZ
其它名稱： 296-33434-5
MSP430F4783IPZ-ND
MSP430F47x3, MSP430F47x4
MIXED SIGNAL MICROCONTROLLER
SLAS545C MAY 2007 REVISED MARCH 2011
27
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
electrical characteristics over recommended ranges of supply voltage and operating free-air
temperature (unless otherwise noted) (continued)
Schmitt-trigger inputs Ports P1 through P5, P7 through P10, RST/NMI, JTAG: TCK, TMS, TDI/TCLK, TDO/TDI
PARAMETER
TEST CONDITIONS
VCC
MIN
TYP
MAX
UNIT
P
iti
i
t th
h ld
0.45
0.75
VCC
VIT+
Positive-going input threshold
voltage
2.2 V
1.00
1.65
V
VIT+
voltage
3 V
1.35
2.25
V
Nti
i
it th
h ld
0.25
0.55
VCC
VIT
Negative-going input threshold
voltage
2.2 V
0.55
1.20
V
VIT
voltage
3 V
0.75
1.65
V
Input voltage hysteresis (VIT+
2.2 V
0.2
1.0
V
Vhys
Input voltage hysteresis (VIT+
VIT)
3 V
0.3
1.0
V
RPull
Pullup/pulldown resistor
(not RST/NMI and JTAG pins)
For pullup: VIN = VSS,
For pulldown: VIN = VCC
20
35
50
k
W
CI
Input Capacitance
VIN = VSS or VCC
5
pF
inputs Ports P1, P2
PARAMETER
TEST CONDITIONS
VCC
MIN
MAX
UNIT
t(int)
External interrupt timing
Port P1, P2: P1.x to P2.x, External
trigger puls width to set interrupt flag,
(see Note 1)
2.2 V/3 V
20
ns
NOTES:
1. An external signal sets the interrupt flag every time the minimum interrupt puls width t(int) is met. It may be set even with trigger signals
shorter than t(int).
leakage current Ports P1 through P5, P7 through P10
PARAMETER
TEST CONDITIONS
VCC
MIN
MAX
UNIT
Ilkg(Px.x)
High-impedance leakage current
see Notes 1 and 2
2.2 V/3 V
±50
nA
NOTES:
1. The leakage current is measured with VSS or VCC applied to the corresponding pin(s), unless otherwise noted.
2. The leakage of the digital port pins is measured individually. The port pin is selected for input and the pullup/pulldown resistor is
disabled.
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