- 您現(xiàn)在的位置：買賣IC網(wǎng) > PDF目錄299575 > OR3T806PS240-DB (LATTICE SEMICONDUCTOR CORP) FPGA, 484 CLBS, 116000 GATES, PQFP240 PDF資料下載
參數(shù)資料
| 型號： | OR3T806PS240-DB |
| 廠商： | LATTICE SEMICONDUCTOR CORP |
| 元件分類： | FPGA |
| 英文描述： | FPGA, 484 CLBS, 116000 GATES, PQFP240 |
| 封裝： | PLASTIC, SQFP2-240 |
| 文件頁數(shù)： | 157/203頁 |
| 文件大?。?/td> | 1368K |
| 代理商： | OR3T806PS240-DB |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁當(dāng)前第157頁第158頁第159頁第160頁第161頁第162頁第163頁第164頁第165頁第166頁第167頁第168頁第169頁第170頁第171頁第172頁第173頁第174頁第175頁第176頁第177頁第178頁第179頁第180頁第181頁第182頁第183頁第184頁第185頁第186頁第187頁第188頁第189頁第190頁第191頁第192頁第193頁第194頁第195頁第196頁第197頁第198頁第199頁第200頁第201頁第202頁第203頁
Lattice Semiconductor
57
Data Sheet
November 2006
ORCA Series 3C and 3T FPGAs
Special Function Blocks (continued)
The external test (EXTEST) instruction allows the inter-
connections between ICs in a system to be tested for
opens and stuck-at faults. If an EXTEST instruction is
performed for the system shown in Figure 36, the con-
nections between U1 and U2 (shown by nets a, b, and
c) can be tested by driving a value onto the given nets
from one device and then determining whether the
same value is seen at the other device. This is deter-
mined by shifting 2 bits of data for each pin (one for the
output value and one for the 3-state value) through the
BSR until each one aligns to the appropriate pin. Then,
based upon the value of the 3-state signal, either the
I/O pad is driven to the value given in the BSR, or the
BSR is updated with the input value from the I/O pad,
which allows it to be shifted out TDO.
The SAMPLE/PRELOAD instruction is useful for sys-
tem debugging and fault diagnosis by allowing the data
at the FPGA’s I/Os to be observed during normal
operation or written during test operation. The data for
all of the I/Os is captured simultaneously into the BSR,
allowing them to be shifted-out TDO to the test host.
Since each I/O buffer in the PICs is bidirectional, two
pieces of data are captured for each I/O pad: the value
at the I/O pad and the value of the 3-state control sig-
nal. For preload operation, data is written from the BSR
to all of the I/Os simultaneously.
There are ve
ORCA-dened instructions. The PLC
scan rings 1 and 2 (PSR1, PSR2) allow user-dened
internal scan paths using the PLC latches/FFs. The
RAM_Write Enable (RAM_W) instruction allows the
user to serially congure the FPGA through TDI. The
RAM_Read Enable (RAM_R) allows the user to read
back RAM contents on TDO after conguration. The
IDCODE instruction allows the user to capture a 32-bit
identication code that is unique to each device and
serially output it at TDO. The IDCODE format is shown
in Table 14.
Table 14. Boundary-Scan ID Code
* PLC array size of FPGA, reverse bit order.
Note: Table assumes version 0.
Device
Version
(4 bits)
Part
*
(10 bits)
Family
(6 bits)
Manufacturer
(11 bits)
LSB
(1 bit)
OR3T20
0000
0011000000 110000
00000011101
1
OR3T30
0000
0111000000 110000
00000011101
1
OR3T55
0000
0100100000 110000
00000011101
1
OR3C/T80
0000
0110100000 110000
00000011101
1
OR3T125
0000
0011100000 110000
00000011101
1
Select
devices
have
been
discontinued.
See
Ordering
Information
section
for
product
status.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| OR3T807PS240-DB | FPGA, 484 CLBS, 116000 GATES, PQFP240 |
| OR3T55-4BA256I | FPGA, 324 CLBS, 40000 GATES, 80 MHz, PBGA256 |
| OR3T55-4BA256 | FPGA, 324 CLBS, 40000 GATES, 80 MHz, PBGA256 |
| OR3T55-4BA352I | FPGA, 324 CLBS, 40000 GATES, 80 MHz, PBGA352 |
| OR3T55-4BA352 | FPGA, 324 CLBS, 40000 GATES, 80 MHz, PBGA352 |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| OR3T80-6PS240I | 制造商:AGERE 制造商全稱:AGERE 功能描述:3C and 3T Field-Programmable Gate Arrays |
| OR3T806PS240I-DB | 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場可編程門陣列 3872 LUT 342 I/O RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
| OR3T806S208-DB | 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場可編程門陣列 Use LatticeEC RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
| OR3T806S208I-DB | 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場可編程門陣列 Use LatticeEC RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
| OR3T80-7BA352 | 制造商:Lattice Semiconductor Corporation 功能描述:Field-Programmable Gate Array, 484 Cell, 352 Pin, Plastic, BGA |
發(fā)布緊急采購，3分鐘左右您將得到回復(fù)。