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參數(shù)資料
| 型號： | P2600EARP2 |
| 英文描述： | MCU CMOS 28 LD LOW PWR, -40C to +85C, 28-SPDIP, TUBE |
| 中文描述： | SIDAC的| 300V五（公報）最大| 800mA的我（縣）|對92VAR |
| 文件頁數(shù)： | 100/161頁 |
| 文件大小： | 986K |
| 代理商： | P2600EARP2 |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁當(dāng)前第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁第158頁第159頁第160頁第161頁
UL 1950 3RD Edition/CSA C22.2 No. 950-95
SIDACtor
Data Book
4 - 26
Teccor Electronics
(972) 580-7777
3.
Line Cords
- Equipment that has a removable telecommunications line cord is to
be connected to the test circuit with a line cord having 0.4mm (26 AWG) or
larger copper wire conductors and not more than 1
total resistance.
4.
Functional Circuitry
- UL mandates that functional circuitry must be used for
each over-voltage test conducted. This allows damaged circuitry to be repaired
or replaced before subsequent testing. Alternatively, separate samples may be
used for each test.
5.
Wiring Simulators
- A wiring simulator is used to indicate whether the maximum
I
2
t imposed upon telecommunications wiring has been exceeded. For Tests 1 &
5, a wiring simulator is to be used unless the equipment is specified for use with
a suitable secondary protector or a secondary protector simulator. The wiring
simulator can consist of one of the following:
a. A 50mm length of .2mm (32 AWG) bare or enameled solid copper wire
(for Test condition 1).
b. A Bussman Mfg. Co. Type MDL-2A fuse (for Test condition 1).
c. A 300mm length of .4mm (no. 26 AWG) solid copper wire which connects
to a representative installation (includes wiring an connectors). This option
is used when the manufacturer specifies the complete installation from the
network interface to the equipment.
d. Current probe used with a 300mm length of .5mm (24 AWG) copper wire
(for Test condition 1).
Note:
Test conditions 2, 3, & 4 do not require the use of a wiring simulator or a secondary
protector simulator. Any secondary protection simulators used in Tests 1 & 5 should be
similar to the test fuse used in UL 497A, Standard for Secondary Protectors for
Communications Circuits.
Over-Voltage Test Compliance
Equipment is deemed compliant if both of the following conditions are met during test:
1. An absence of ignition or charring of the cheesecloth indicator (charring is
deemed to have occurred when the threads have been reduced to char by a
glowing or flaming condition).
2. The wiring simulator (Figures 4-12 & 4-13) does not open during the appropriate
test, or for test condition 1 (Table 4-18), the integral I
2
t measured with a current
probe is less than 100A
2
s.
After completion of the Over-Voltage Tests, equipment must comply with either the
Dielectric Voltage-Withstand Test requirements or Leakage Current Test requirements
listed in sections 6.3 and 6.4 of UL 1950.
Special Considerations Regarding the SIDACtor and UL 1950.
SIDACtors are recognized under UL 497B
SIDACtor epoxy used is UL recognized and the encapsulated body passes
UL 94V-0 requirements for flammability.
The only specific requirements of UL 1950 that pertains to the SIDACtor itself is the
mandate that components be UL listed. All other UL 1950 requirements pertain to
the equipment being evaluated.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| P2600EB | SIDAC|300V V(BO) MAX|800MA I(S)|TO-92VAR |
| P2600EBRP1 | MCU CMOS 28 LD 40MHZ 16K OTP, -40C to +85C, 28-SPDIP, TUBE |
| P2600EBRP2 | MCU CMOS 28 LD 40MHZ 16K OTP, -40C to +85C, 28-SOIC 300mil, T/R |
| P2600EC | MCU CMOS 28 LD LOW PWR, -40C to +85C, 28-SPDIP, TUBE |
| P2600ECRP1 | MCU CMOS 40 LD 40MHZ 8K OTP, -40C to +85C, 40-PDIP, TUBE |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| P2600EB | 功能描述:硅對稱二端開關(guān)元件 100A 220V RoHS:否 制造商:Bourns 轉(zhuǎn)折電流 VBO:40 V 最大轉(zhuǎn)折電流 IBO:800 mA 不重復(fù)通態(tài)電流: 額定重復(fù)關(guān)閉狀態(tài)電壓 VDRM:25 V 關(guān)閉狀態(tài)漏泄電流（在 VDRM IDRM 下）: 保持電流（Ih 最大值）:50 mA 開啟狀態(tài)電壓:5 V 關(guān)閉狀態(tài)電容 CO:120 pF 最大工作溫度:+ 150 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:DO-214AA |
| P2600EBL | 功能描述:硅對稱二端開關(guān)元件 100A 220V RoHS:否 制造商:Bourns 轉(zhuǎn)折電流 VBO:40 V 最大轉(zhuǎn)折電流 IBO:800 mA 不重復(fù)通態(tài)電流: 額定重復(fù)關(guān)閉狀態(tài)電壓 VDRM:25 V 關(guān)閉狀態(tài)漏泄電流（在 VDRM IDRM 下）: 保持電流（Ih 最大值）:50 mA 開啟狀態(tài)電壓:5 V 關(guān)閉狀態(tài)電容 CO:120 pF 最大工作溫度:+ 150 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:DO-214AA |
| P2600EBLAP | 功能描述:硅對稱二端開關(guān)元件 100A 220V RoHS:否 制造商:Bourns 轉(zhuǎn)折電流 VBO:40 V 最大轉(zhuǎn)折電流 IBO:800 mA 不重復(fù)通態(tài)電流: 額定重復(fù)關(guān)閉狀態(tài)電壓 VDRM:25 V 關(guān)閉狀態(tài)漏泄電流（在 VDRM IDRM 下）: 保持電流（Ih 最大值）:50 mA 開啟狀態(tài)電壓:5 V 關(guān)閉狀態(tài)電容 CO:120 pF 最大工作溫度:+ 150 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:DO-214AA |
| P2600EBLRP1 | 功能描述:硅對稱二端開關(guān)元件 100A 220V RoHS:否 制造商:Bourns 轉(zhuǎn)折電流 VBO:40 V 最大轉(zhuǎn)折電流 IBO:800 mA 不重復(fù)通態(tài)電流: 額定重復(fù)關(guān)閉狀態(tài)電壓 VDRM:25 V 關(guān)閉狀態(tài)漏泄電流（在 VDRM IDRM 下）: 保持電流（Ih 最大值）:50 mA 開啟狀態(tài)電壓:5 V 關(guān)閉狀態(tài)電容 CO:120 pF 最大工作溫度:+ 150 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:DO-214AA |
| P2600EBLRP2 | 功能描述:硅對稱二端開關(guān)元件 100A 220V RoHS:否 制造商:Bourns 轉(zhuǎn)折電流 VBO:40 V 最大轉(zhuǎn)折電流 IBO:800 mA 不重復(fù)通態(tài)電流: 額定重復(fù)關(guān)閉狀態(tài)電壓 VDRM:25 V 關(guān)閉狀態(tài)漏泄電流（在 VDRM IDRM 下）: 保持電流（Ih 最大值）:50 mA 開啟狀態(tài)電壓:5 V 關(guān)閉狀態(tài)電容 CO:120 pF 最大工作溫度:+ 150 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:DO-214AA |
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