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參數(shù)資料
| 型號： | P28F020-150 |
| 廠商： | INTEL CORP |
| 元件分類： | PROM |
| 英文描述： | 28F020 2048K (256K X 8) CMOS FLASH MEMORY |
| 中文描述： | 256K X 8 FLASH 12V PROM, 150 ns, PDIP32 |
| 封裝： | 0.620 X 1.640 INCH, PLASTIC, DIP-32 |
| 文件頁數(shù)： | 28/38頁 |
| 文件大小： | 878K |
| 代理商： | P28F020-150 |
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28F020
E
28
4.8
AC Characteristics
—Read Only Operations—Commercial and Extended
Temperature Products
Versions
28F020-90
(4)
28F020-120
(4)
28F020-150
(4)
Symbol
Characteristics
Notes
Min
Max
Min
Max
Min
Max
Unit
t
AVAV
/t
RC
Read Cycle Time
90
120
150
ns
t
ELQV
/
t
CE
>
Chip Enable Access
Time
90
120
150
ns
t
AVQV
/
t
ACC
Address Access
Time
90
120
150
ns
t
GLQV
/
t
OE
Output Enable
Access Time
35
50
50
ns
t
ELQ
X
/
t
LZ
Chip Enable to
Output in Low Z
2, 3
0
0
0
ns
t
EHQZ
Chip Disable to
Output in High Z
2
45
55
55
ns
t
GLQX
/
t
OLZ
Output Enable to
Output in Low Z
2, 3
0
0
0
ns
t
GHQZ
/
t
DF
Output Disable to
Output in High Z
2
30
30
30
ns
t
OH
Output Hold from
Address, CE#, or
OE# Change
1, 2
0
0
0
ns
t
WHGL
Write Recovery Time
before Read
6
6
6
μs
NOTES:
1.
2.
3.
4.
Whichever occurs first.
Sampled, not 100% tested.
Guaranteed by design.
See High Speed AC Testing Input/Output Waveform(Figure 8) and High Speed AC Testing Load Circuit(Figure 9) for
testing characteristics.
See Testing Input/Output Waveform(Figure 6) and AC Testing Load Circuit(Figure 7) for testing characteristics.
5.
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| P28F256A-120 | x8 Flash EEPROM |
| D28F256-170P1C2 | x8 Flash EEPROM |
| D28F256-200P1C2 | x8 Flash EEPROM |
| D28F256-250P1C2 | x8 Flash EEPROM |
| P28F256A-150 | x8 Flash EEPROM |
相關代理商/技術參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| P28F02090 | 制造商:Intel 功能描述: |
| P28F020-90 | 制造商:INTEL 制造商全稱:Intel Corporation 功能描述:28F020 2048K (256K X 8) CMOS FLASH MEMORY |
| P28F-1A-BL | 制造商:Carling Technologies 功能描述:P26-SERIES PUSH BUTTON SW - Bulk |
| P28F-1A-BL/2 HEX | 制造商:Carling Technologies 功能描述:P26-SERIES PUSH BUTTON SW - Bulk |
| P28F-1B-BL | 制造商:Carling Technologies 功能描述:P26-SERIES PUSH BUTTON SW - Bulk |
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