參數(shù)資料
型號： PK60N512VLL100
廠商： Freescale Semiconductor
文件頁數(shù)： 19/76頁
文件大小： 0K
描述： IC ARM CORTEX MCU 512K 100-LQFP
產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： Kinetis® Cortex-M4 Microcontroller Family
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 1
系列： Kinetis
核心處理器： ARM? Cortex?-M4
芯體尺寸： 32-位
速度： 100MHz
連通性： CAN，EBI/EMI，以太網(wǎng)，I²C，IrDA，SDHC，SPI，UART/USART，USB，USB OTG
外圍設(shè)備： DMA，I²S，LVD，POR，PWM，WDT
輸入/輸出數(shù)： 66
程序存儲器容量： 512KB（512K x 8）
程序存儲器類型： 閃存
RAM 容量： 128K x 8
電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： 1.71 V ~ 3.6 V
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器： A/D 25x16b，D/A 1x12b
振蕩器型： 內(nèi)部
工作溫度： -40°C ~ 105°C
封裝/外殼： 100-LQFP
包裝： 托盤
Table 14. JTAG full voltage range electricals (continued)
Symbol
Description
Min.
Max.
Unit
J5
Boundary scan input data setup time to TCLK rise
20
—
ns
J6
Boundary scan input data hold time after TCLK rise
0
—
ns
J7
TCLK low to boundary scan output data valid
—
25
ns
J8
TCLK low to boundary scan output high-Z
—
25
ns
J9
TMS, TDI input data setup time to TCLK rise
8
—
ns
J10
TMS, TDI input data hold time after TCLK rise
1.4
—
ns
J11
TCLK low to TDO data valid
—
22.1
ns
J12
TCLK low to TDO high-Z
—
22.1
ns
J13
TRST assert time
100
—
ns
J14
TRST setup time (negation) to TCLK high
8
—
ns
J2
J3
J4
TCLK (input)
Figure 5. Test clock input timing
J7
J8
J7
J5
J6
Input data valid
Output data valid
TCLK
Data inputs
Data outputs
Figure 6. Boundary scan (JTAG) timing
Peripheral operating requirements and behaviors
K60 Sub-Family Data Sheet Data Sheet, Rev. 7, 02/2013.
26
Freescale Semiconductor, Inc.
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PDF描述
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