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參數(shù)資料
| 型號： | SC515849 |
| 廠商： | Motorola, Inc. |
| 英文描述： | Pressure Transducer, Series 19 mm, Compensated, Pressure Range: 0 psi to 100 psi, Gage, 7/16 UNF, 10 Vdc excitation |
| 中文描述： | MC9S12DT128設備的用戶手冊V02.09 |
| 文件頁數(shù)： | 113/138頁 |
| 文件大小： | 2083K |
| 代理商： | SC515849 |
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MC9S12DT128 Device User Guide — V02.09
113
A.3.2 NVM Reliability
The reliability of the NVM blocks is guaranteed by stress test during qualification, constant process
monitors and burn-in to screen early life failures.
The failure rates for data retention and program/erase cycling are specified at the operating conditions
noted.
The program/erase cycle count on the sector is incremented every time a sector or mass erase event is
executed.
Table A-12 NVM Reliability Characteristics
Conditions are shown in
Table A-4
unless otherwise noted
Num C
Rating
Symbol
Min
Typ
Max
Unit
1
C
Data Retention at an average junction temperature of
T
Javg
= 70
°
C
t
NVMRET
15
Years
2
C Flash number of Program/Erase cycles
n
FLPE
10,000
Cycles
3
C
EEPROM number of Program/Erase cycles
(–40
°
C
≤
T
J
≤
0
°
C)
n
EEPE
10,000
Cycles
4
C
EEPROM number of Program/Erase cycles
(0
°
C < T
J
≤
140
°
C)
n
EEPE
100,000
Cycles
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| SCAN12100 | 1228.8 and 614.4 Mbps CPRI SerDes with Auto RE Sync and Precision Delay Calibration Measurement |
| SCAN15MB200 | Dual 1.5 Gbps 2:1/1:2 LVDS Mux/Buffer with Pre-Emphasis and IEEE 1149.6 |
| SCAN15MB200TSQ | Dual 1.5 Gbps 2:1/1:2 LVDS Mux/Buffer with Pre-Emphasis and IEEE 1149.6 |
| SCAN15MB200TSQX | Dual 1.5 Gbps 2:1/1:2 LVDS Mux/Buffer with Pre-Emphasis and IEEE 1149.6 |
| SCAN162512SM | Low Voltage Universal 16-bit IEEE 1149.1 Bus Transceiver with TRI-STATE Outputs |
相關代理商/技術參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| SC516/WH | 制造商:CQR Security 功能描述:REED AND MAGNET HOUSING |
| SC51601FBR2 | 制造商:Motorola Inc 功能描述: |
| SC51613DWR2 | 制造商:Motorola Inc 功能描述: |
| SC516252CB | 制造商:Freescale Semiconductor 功能描述: |
| SC516724CDWER | 制造商:Freescale 功能描述:0 |
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