型號(hào): | SN74ABT8952DL |
廠商: | Texas Instruments |
文件頁數(shù): | 17/31頁 |
文件大?。?/td> | 0K |
描述: | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP |
標(biāo)準(zhǔn)包裝: | 40 |
系列: | 74ABT |
邏輯類型: | 掃描測(cè)試設(shè)備,帶寄存總線收發(fā)器 |
電源電壓: | 4.5 V ~ 5.5 V |
位數(shù): | 8 |
工作溫度: | -40°C ~ 85°C |
安裝類型: | 表面貼裝 |
封裝/外殼: | 28-BSSOP(0.295",7.50mm 寬) |
供應(yīng)商設(shè)備封裝: | 28-SSOP |
包裝: | 管件 |
產(chǎn)品目錄頁面: | 925 (CN2011-ZH PDF) |
其它名稱: | 296-4115-5 |
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PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
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