參數(shù)資料
型號(hào)： SSTUAF32866CHLFT
廠商： IDT, Integrated Device Technology Inc
文件頁(yè)數(shù)： 20/30頁(yè)
文件大?。?/td> 0K
描述： IC REGIST BUFF 25BIT DDR2 96-BGA
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 2,500
邏輯類型： 1:2 可配置寄存緩沖器
電源電壓： 1.7 V ~ 1.9 V
位數(shù)： 25，14
工作溫度： 0°C ~ 70°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 96-LFBGA
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 96-CABGA（13.5x5.5）
包裝： 帶卷 (TR)
ICSSSTUAF32866C
25-BIT CONFIGURABLE REGISTERED BUFFER FOR DDR2
COMMERCIAL TEMPERATURE GRADE
25-BIT CONFIGURABLE REGISTERED BUFFER FOR DDR2
27
ICSSSTUAF32866C
7100/12
Test Circuits and Waveforms (VDD = 1.8V ± 0.1V)
Load Circuit: High-to-Low Slew-Rate Adjustment
Voltage Waveforms: High-to-Low Slew-Rate Adjustment
Load Circuit: Low-to-High Slew-Rate Adjustment
Voltage Waveforms: Low-to-High Slew-Rate Adjustment
Load Circuit: Error Output Measurements
Voltage Waveforms: Open Drain Output Low-to-High
Transition Time (with respect to RESET input)
Voltage Waveforms: Open Drain Output High-to-Low
Transition Time (with respect to clock inputs)
Voltage Waveforms: Open Drain Output Low-to-High
Transition Time (with respect to clock inputs)
NOTES:
1. CL includes probe and jig capacitance.
2. All input pulses are supplied by generators having the following characteristics: PRR
≤10MHz, Zo = 50, input
slew rate = 1 V/ns ±20% (unless otherwise specified).
CL =10 pF
RL =50
DUT
Out
Test Point
VDD
VOH
80%
20%
VOL
Output
dv_f
dt_f
CL =10pF
RL =50
DUT
Out
Test Point
VOL
20%
80%
VOH
Output
dv_r
dt_r
CL =10 pF
RL =1K
DUT
Out
Test Point
VDD
VOH
VCC
Output
Waveform 2
LVCMOS
RESET
Input
tPLH
VCC/2
0.15V
0V
VCC
VICR
tHL
Timing
Inputs
VICR
VI(PP)
Output
Waveform 1
VCC/2
VOL
VOH
Output
Waveform 2
0.15V
0V
VICR
tHL
Timing
Inputs
VICR
VI(PP)
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參數(shù)描述
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