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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | AGLE600V2-FGG484I |
| 廠商： | Microsemi SoC |
| 文件頁數(shù)： | 125/166頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FPGA 1KB FLASH 600K 484-FBGA |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 60 |
| 系列： | IGLOOe |
| 邏輯元件/單元數(shù)： | 13824 |
| RAM 位總計(jì)： | 110592 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 270 |
| 門數(shù)： | 600000 |
| 電源電壓： | 1.14 V ~ 1.575 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 484-BGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 484-FPBGA（23x23） |
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IGLOOe Low Power Flash FPGAs
Revision 13
2-47
1.2 V LVCMOS (JESD8-12A)
Low-Voltage CMOS for 1.2 V complies with the LVCMOS standard JESD8-12A for general purpose 1.2 V
applications. It uses a 1.2 V input buffer and a push-pull output buffer.
Table 2-64 Minimum and Maximum DC Input and Output Levels
Applicable to Advanced I/O Banks
1.2 V
LVCMOS1
VIL
VIH
VOL
VOH
IOL IOH
IOSH
IOSL IIL2 IIH3
Drive
Strength
Min.
V
Max.
V
Min.
V
Max.
V
Max.
V
Min.
VmA mA
Max.
mA4
Max.
mA4
A5 A5
2 mA
–0.3 0.35 * VCCI 0.65 * VCCI
3.6
0.25 * VCCI 0.75 * VCCI 2
2
20
26
10 10
Notes:
1. Applicable to V2 devices ONLY.
2. IIL is the input leakage current per I/O pin over recommended operation conditions where –0.3 V < VIN < VIL.
3. IIH is the input leakage current per I/O pin over recommended operating conditions VIH < VIN < VCCI. Input current is
larger when operating outside recommended ranges.
4. Currents are measured at high temperature (100°C junction temperature) and maximum voltage.
5. Currents are measured at 85°C junction temperature.
6. Software default selection highlighted in gray.
Figure 2-11 AC Loading
Table 2-65 AC Waveforms, Measuring Points, and Capacitive Loads
Input Low (V)
Input High (V)
Measuring Point* (V)
VREF (typ.) (V)
CLOAD (pF)
01.2
0.6
–
5
Test Point
Enable Path
Datapath
5 pF
R = 1 k
R to VCCI for tLZ / tZL / tZLS
R to GND for tHZ / tZH / tZHS
5 pF for tZH / tZHS / tZL / tZLS
5 pF for tHZ / tLZ
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