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參數(shù)資料
| 型號： | DS21354LN |
| 廠商： | Maxim Integrated Products |
| 文件頁數(shù)： | 115/124頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC TXRX E1 1-CHIP 3.3V 100-LQFP |
| 產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： | Lead (SnPb) Finish for COTS |
| 產(chǎn)品變化通告： | Product Discontinuation 20/Feb/2012 |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 90 |
| 功能： | 單芯片收發(fā)器 |
| 接口： | E1，HDLC |
| 電路數(shù)： | 1 |
| 電源電壓： | 3.14 V ~ 3.47 V |
| 電流 - 電源： | 75mA |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 100-LQFP |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 100-LQFP（14x14） |
| 包裝： | 托盤 |
| 包括： | 遠(yuǎn)程和 AIS 警報檢測器 / 發(fā)生器 |
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DS21354/DS21554 3.3V/5V E1 Single-Chip Transceivers
90 of 124
16.
JTAG BOUNDARY SCAN ARCHITECTURE AND TEST ACCESS PORT
The
DS21354/DS21554
IEEE
1149.1
design
supports
the
standard
instruction
codes
SAMPLE/PRELOAD, BYPASS, and EXTEST. Optional public instructions included are HIGHZ,
CLAMP, and IDCODE. See Figure 16-1. The device contains the following as required by IEEE 1149.1
Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture.
Test Access Port (TAP)
TAP Controller
Instruction Register
Bypass Register
Boundary Scan Register
Device Identification Register
The DS21354/DS21554 are enhanced versions of the DS2152 and are backward pin compatible. The
JTAG feature uses pins that had no function in the DS2152. When using the JTAG feature, be sure FMS
(pin 76) is tied low, enabling the newly defined pins of the DS21354/DS21554. Details on Boundary
Scan Architecture and the Test Access Port can be found in IEEE 1149.1-1990, IEEE 1149.1a-1993, and
IEEE 1149.1b-1994.
The Test Access Port has the necessary interface pins: JTRST, JTCLK, JTMS, JTDI, and JTDO. See the
pin descriptions in Section 3 for details.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| MC56F8256VLF | DSC 64K FLASH 60MHZ 48-LQFP |
| VI-25B-IY-B1 | CONVERTER MOD DC/DC 95V 50W |
| S9S08DZ32F1MLF | MCU 32K FLASH MASK AUTO 48-LQFP |
| S9S08DZ60F1CLC | MCU 60K FLASH AUTO 32-LQFP |
| DS21552GN | IC TXRX T1 1-CHIP 5V 100-BGA |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| DS21354LN+ | 功能描述:網(wǎng)絡(luò)控制器與處理器 IC 3.3/5V E1 Single Chip Transceiver RoHS:否 制造商:Micrel 產(chǎn)品:Controller Area Network (CAN) 收發(fā)器數(shù)量: 數(shù)據(jù)速率: 電源電流（最大值）:595 mA 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:PBGA-400 封裝:Tray |
| DS21372 | 制造商:DALLAS 制造商全稱:Dallas Semiconductor 功能描述:3.3V Bit Error Rate Tester BERT |
| DS21372T | 功能描述:網(wǎng)絡(luò)控制器與處理器 IC 3.3V Bit Error Rate Tester (BERT) RoHS:否 制造商:Micrel 產(chǎn)品:Controller Area Network (CAN) 收發(fā)器數(shù)量: 數(shù)據(jù)速率: 電源電流（最大值）:595 mA 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:PBGA-400 封裝:Tray |
| DS21372T+ | 功能描述:網(wǎng)絡(luò)控制器與處理器 IC 3.3V Bit Error Rate Tester (BERT) RoHS:否 制造商:Micrel 產(chǎn)品:Controller Area Network (CAN) 收發(fā)器數(shù)量: 數(shù)據(jù)速率: 電源電流（最大值）:595 mA 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:PBGA-400 封裝:Tray |
| DS21372TN | 功能描述:網(wǎng)絡(luò)控制器與處理器 IC 3.3V Bit Error Rate Tester (BERT) RoHS:否 制造商:Micrel 產(chǎn)品:Controller Area Network (CAN) 收發(fā)器數(shù)量: 數(shù)據(jù)速率: 電源電流（最大值）:595 mA 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:PBGA-400 封裝:Tray |
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