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參數(shù)資料
| 型號： | IDT70V9099L12PF |
| 廠商： | INTEGRATED DEVICE TECHNOLOGY INC |
| 元件分類： | DRAM |
| 英文描述： | Small Signal Diode |
| 中文描述： | 128K X 8 DUAL-PORT SRAM, 25 ns, PQFP100 |
| 封裝： | TQFP-100 |
| 文件頁數(shù)： | 7/17頁 |
| 文件大小： | 300K |
| 代理商： | IDT70V9099L12PF |
6.42
IDT70V9199/099L
High-Speed 3.3V 128K x9/x8 Dual-Port Synchronous Pipelined Static RAM Industrial and Commercial Temperature Ranges
AC Test Conditions
Input Pulse Levels
GND to 3.0V
7
Figure 1. AC Output Test load.
Figure 2. Output Test Load
(For t
CKLZ
, t
CKHZ
, t
OLZ
, and t
OHZ
).
*Including scope and jig.
Figure 3. Typical Output Derating (Lumped Capacitive Load).
4859 drw 04
590
30pF
435
3.3V
DATA
OUT
590
5pF*
435
3.3V
DATA
OUT
4859 drw 03
1
2
3
4
5
6
7
8
20 40
100
60 80
Capacitance (pF)
120 140 160 180 200
tCD
1
,
tCD
2
(Typical, ns)
4859 drw 05
-1
0
- 10pF is the I/O capacitance
of this device, and 30pF is the
AC Test Load Capacitance
.
Input Rise/Fall Times
Input Timing Reference Levels
Output Reference Levels
Output Load
3ns Max.
1.5V
1.5V
Figures 1, 2, and 3
4859 tbl 10
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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