參數(shù)資料
型號： IDT82V2108BBG
廠商： IDT, Integrated Device Technology Inc
文件頁數(shù)： 202/292頁
文件大?。?/td> 0K
描述： IC FRAMER T1/J1/E1 8CH 144-BGA
標準包裝： 10
控制器類型： T1/E1/J1 調(diào)幀器
接口： 并聯(lián)
電源電壓： 2.97 V ~ 3.63 V
電流 - 電源： 160mA
工作溫度： -40°C ~ 85°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 144-BGA
供應商設備封裝： 144-PBGA（13x13）
包裝： 托盤
其它名稱： 82V2108BBG
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IDT82V2108
T1 / E1 / J1 OCTAL FRAMER
IEEE STD 1149.1 JTAG Test Access Port
270
March 5, 2009
6.2
JTAG DATA REGISTER
6.2.1
DEVICE IDENTIFICATION REGISTER (IDR)
The IDR can be set to define the Vision, the Part Number, the Man-
ufacturer Identity and a fixed bit. The IDR is 32 bits long and is parti-
tioned as in Table 67. Data from the IDR is shifted out to the TDO LSB
first.
6.2.2
BYPASS REGISTER (BYR)
The BYR consists of a single bit. It can provide a serial path
between the TDI input and TDO output, bypassing the BYR to reduce
test access times.
6.2.3
BOUNDARY SCAN REGISTER (BSR)
The scan chain uses 3 types of cells:
- Input / Output cells: When used as input, the cells are able to
sample and control the state of an external signal during BS tests. When
used as output, the cells are able to control the state of an external sig-
nal during BS tests.
- In/Out or Tri-state output cells: When configured as input, the cells
are able to sample and control the state of an external signal. When con-
figured as output, the cells are able to control the state of an external
signal.
- Control cell: This cell provides a signal for direction control of bi-
directional or tri-state output pins during BS tests.
The Boundary Scan sequence and the I/O Pad Cell type are illus-
trated in Table 68:
Table 67: IDR
BIT No.
COMMENTS
0
Set to ‘1’
1 ~ 11
Manufacturer Identity (033H)
12 ~ 27
Part Number (04D0H)
28 ~ 31
Version (2H)
Table 68: Boundary Scan Sequence & I/O Pad Cell Type
Pin_name
Cell Type
BS *
LRD[1]
Input
128
LRCK[1]
Input
127
LRD[2]
Input
126
LRCK[2]
Input
125
LRD[3]
Input
124
LRCK[3]
Input
123
LRD[4]
Input
122
LRCK[4]
Input
121
LTD[1]
Output
120
LTCK[1]
Output
119
LTD[2]
Output
118
LTCK[2]
Output
117
LTD[3]
Output
116
LTCK[3]
Output
115
LTD[4]
Output
114
LTCK[4]
Output
113
LTD[5]
Output
112
LTCK[5]
Output
111
LTD[6]
Output
110
LTCK[6]
Output
109
LTD[7]
Output
108
LTCK[7]
Output
107
LTD[8]
Output
106
LTCK[8]
Output
105
LRD[5]
Input
104
LRCK[5]
Input
103
LRD[6]
Input
102
LRCK[6]
Input
101
LRD[7]
Input
100
LRCK[7]
Input
99
LRD[8]
Input
98
LRCK[8]
Input
97
RST
Input
96
INT
Output
95
D[7:0]_EN
Control
94
D[0]
In/Out
93
D[1]
In/Out
92
D[2]
In/Out
91
D[3]
In/Out
90
D[4]
In/Out
89
D[5]
In/Out
88
D[6]
In/Out
87
D[7]
In/Out
86
ALE
Input
85
A[0]
Input
84
A[1]
Input
83
A[2]
Input
82
A[3]
Input
81
A[4]
Input
80
A[5]
Input
79
A[6]
Input
78
A[7]
Input
77
A[8]
Input
76
A[9]
Input
75
Table 68: Boundary Scan Sequence & I/O Pad Cell Type
Pin_name
Cell Type
BS *
相關PDF資料
PDF描述
IDT82V2604BBG IC INVERSE MUX 4CH ATM 208-BGA
IDT82V2608BBG IC INVERSE MUX 8CH ATM 208-BGA
IDT82V2616BBG IC INVERSE MUX 16CH ATM 272-PBGA
IDT88K8483BRI IC SPI-4 EXCHANGE 3PORT 672-BGA
IDT88P8341BHI IC SPI3-SPI4 EXCHANGE 820-PBGA
相關代理商/技術參數(shù)
參數(shù)描述
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IDT82V2108PX8 功能描述:IC FRAMER T1/J1/E1 8CH 128-PQFP RoHS:否 類別:集成電路 (IC) >> 接口 - 控制器 系列:- 標準包裝:4,900 系列:- 控制器類型:USB 2.0 控制器 接口:串行 電源電壓:3 V ~ 3.6 V 電流 - 電源:135mA 工作溫度:0°C ~ 70°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:36-VFQFN 裸露焊盤 供應商設備封裝:36-QFN（6x6） 包裝:* 其它名稱:Q6396337A
IDT82V2108PXG 功能描述:IC FRAMER T1/J1/E1 8CH 128-PQFP RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 接口 - 控制器 系列:- 標準包裝:4,900 系列:- 控制器類型:USB 2.0 控制器 接口:串行 電源電壓:3 V ~ 3.6 V 電流 - 電源:135mA 工作溫度:0°C ~ 70°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:36-VFQFN 裸露焊盤 供應商設備封裝:36-QFN（6x6） 包裝:* 其它名稱:Q6396337A
IDT82V2108PXG8 功能描述:IC FRAMER T1/J1/E1 8CH 128-PQFP RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 接口 - 控制器 系列:- 標準包裝:4,900 系列:- 控制器類型:USB 2.0 控制器 接口:串行 電源電壓:3 V ~ 3.6 V 電流 - 電源:135mA 工作溫度:0°C ~ 70°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:36-VFQFN 裸露焊盤 供應商設備封裝:36-QFN（6x6） 包裝:* 其它名稱:Q6396337A
IDT82V2604 制造商:IDT 制造商全稱:Integrated Device Technology 功能描述:INVERSE MULTIPLEXING FOR ATM IDT82V2604
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