參數(shù)資料
型號(hào): IDTCV174CPAG8
廠商: INTEGRATED DEVICE TECHNOLOGY INC
元件分類: 時(shí)鐘產(chǎn)生/分配
英文描述: 400 MHz, PROC SPECIFIC CLOCK GENERATOR, PDSO56
封裝: GREEN, TSSOP-56
文件頁數(shù): 16/21頁
文件大?。?/td> 108K
代理商: IDTCV174CPAG8
COMMERCIALTEMPERATURERANGE
4
IDTCV174C
PROGRAMMABLEFLEXPCCLOCKFORP4PROCESSOR
PIN DESCRIPTION, CONTINUED
FREQUENCYSELECTION
FSC, B, A
CPU
SRC[7:0]
PCI
USB
DOT
REF
101
100
33.3
48
96
14.318
001
133
100
33.3
48
96
14.318
011
166
100
33.3
48
96
14.318
010
200
100
33.3
48
96
14.318
000
266
100
33.3
48
96
14.318
100
333
100
33.3
48
96
14.318
110
400
100
33.3
48
96
14.318
111
Reserve
100
33.3
48
96
14.318
TEST MODE SELECTION(1)
If TEST_SEL sampled above 2V at CKPWRGD active LOW
Test_Mode
CPU
SRC
PCI/F
REF
DOT_96/DOT_SSC
USB
1
REF/N
REF
REF/N
0
Hi-Z
NOTE:
1. Once test clock operation has been invoked, TEST_MODE pin will select between the Hi-Z and REF/N, with VIH_FS and VIL_FS threshoulds.
Pin #
Name
Type
Description
41
VDD_CPU_IO
PWR
0.8V
42
CPUC1
OUT
Differentialoutputclock
43
CPUT1
OUT
Differentialoutputclock
44
VSS_CPU
GND
45
CPUC0
OUT
Differentialoutputclock
46
CPUT0
OUT
Differentialoutputclock
47
VDD_CPU
PWR
3.3V
48
CKPWRGD/PD#
IN
CKPWRGD power good, active LOW, used to latch FSA,B,C, ITP_EN, TME, and SRC5_EN , active HIGH.
After, becomes power down, LOW active.
49
FS_B/TestMode
IN
Frequency Select at CKPWRGD assertion. Test Mode selection, see TEST_MODE selection table
50
VSS_REF
GND
51
XTAL_OUT
OUT
XTALout
52
XTAL_IN
IN
XTAL in
53
VDD_REF
PWR
3.3V
54
REF/FS_C/TestSel
I/O
14.318MHz. FrequencySelectatCKPWRGDassertion.Selectstestmodeifpulledabove2VatCKPWRGD
assertion.
55
SDA
I/O
SMBus clock
56
SCL
IN
SMBus data
相關(guān)PDF資料
PDF描述
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IDTQS33X257Q18 DUAL 12-BIT EXCHANGER, TRUE OUTPUT, PDSO48
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參數(shù)描述
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