FN6661.2 March 18, 2010 Test Circuits and Waveforms Logic input waveform is inverted for switches that have the opposite logic sense. FIGURE 1A." />
參數(shù)資料
型號(hào): ISL54210IRTZ-T
廠商: Intersil
文件頁數(shù): 20/21頁
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描述: IC SWITCH DUAL SPDT HS 10-TDFN
標(biāo)準(zhǔn)包裝: 6,000
功能: 開關(guān)
電路: 2 x SPDT
導(dǎo)通狀態(tài)電阻: 35 歐姆
電壓電源: 單電源
電壓 - 電源,單路/雙路(±): 2.7 V ~ 3.6 V
電流 - 電源: 7µA
工作溫度: -40°C ~ 85°C
安裝類型: 表面貼裝
封裝/外殼: 10-VFDFN 裸露焊盤
供應(yīng)商設(shè)備封裝: 10-TDFN/MLP(3x3)
包裝: 帶卷 (TR)
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FN6661.2
March 18, 2010
Test Circuits and Waveforms
Logic input waveform is inverted for switches that have the opposite logic
sense.
FIGURE 1A. MEASUREMENT POINTS
Repeat test for all switches. CL includes fixture and stray
capacitance.
FIGURE 1B. TEST CIRCUIT
FIGURE 1. SWITCHING TIMES
FIGURE 2. AUDIO rON TEST CIRCUIT
FIGURE 3. USB rON TEST CIRCUIT
FIGURE 4. CAPACITANCE TEST CIRCUIT
FIGURE 5. AUDIO CROSSTALK TEST CIRCUIT
50%
tr < 20ns
tf < 20ns
tOFF
90%
VBUSH
0V
VINPUT
VBUSL
tON
LOGIC
INPUT
SWITCH
INPUT
SWITCH
OUTPUT
90%
VOUT
V
OUT
V
(INPUT)
R
L
R
L
r
ON
+
------------------------
=
SWITCH
INPUT
VBUS
VOUT
RL
CL
COMx
AUDIO OR USB
VBUS
50W
10pF
GND
VDD
C
CTRL
VINPUT
VDD
C
VBUSL
L OR R
COMx
VBUS
GND
VL OR R
V1
rON = V1/40mA
40mA
REPEAT TEST FOR ALL SWITCHES
CTRL
VDD
C
VBUSH
D- OR D+
COMx
VBUS
GND
VD- OR D+
V1
rON = V1 / Icom
ICOM
REPEAT TEST FOR ALL SWITCHES
CTRL
VDD
C
GND
AUDIO OR USB
COMx
VBUS
IMPEDANCE
ANALYZER
VBUSL OR
REPEAT TEST FOR ALL SWITCHES
CTRL
VBUSH
0V OR FLOAT
ANALYZER
VDD
C
L OR R
SIGNAL
GENERATOR
RL
GND
VBUS
COMx
32
Ω
NC
COMx
R OR L
REPEAT TEST FOR ALL SWITCHES
CTRL
ISL54210
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PDF描述
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ISL54211IRTZ-T 功能描述:IC SWITCH DUAL SPDT HS 10-TDFN RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 接口 - 模擬開關(guān),多路復(fù)用器,多路分解器 系列:- 產(chǎn)品培訓(xùn)模塊:Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program 標(biāo)準(zhǔn)包裝:36 系列:- 功能:多路復(fù)用器 電路:2 x 4:1 導(dǎo)通狀態(tài)電阻:75 歐姆 電壓電源:單/雙電源 電壓 - 電源,單路/雙路(±):2 V ~ 12 V,±2 V ~ 6 V 電流 - 電源:- 工作溫度:0°C ~ 70°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:20-SOIC(0.295",7.50mm 寬) 供應(yīng)商設(shè)備封裝:20-SOIC W 包裝:管件