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參數(shù)資料
| 型號： | MDC5001T1 |
| 廠商： | 樂山無線電股份有限公司 |
| 英文描述： | Low Voltage Bias Stabilizer with Enable |
| 中文描述： | 低電壓偏置穩(wěn)定與啟用 |
| 文件頁數(shù)： | 6/10頁 |
| 文件大?。?/td> | 188K |
| 代理商： | MDC5001T1 |
6
Motorola Small–Signal Transistors, FETs and Diodes Device Data
OPEN LOOP TEST CIRCUITS
Figure 10. ICC versus VCC Test Circuit
See NOTE 1
MDC5001
Vref (6)
VCC (4)
Iout (1)
GND (2) & (3)
VCC
Q1
Q2
ICC
+
Figure 11. Vref versus VCC Test Circuit
Vref (6)
Iout (1)
Iout
+
VBE3 = 0.7 V
V
A
+
Iout
Vref
Iref
Figure 12. Vref versus TJ Test Circuit
VCC =
2.75 V
Iout
+
VBE3 = 0.7 V
V
A
Iout
Vref
Iref
Figure 13. HFE versus Iout Test Circuit
Iout
1.5 V
A
+
Iout
IB
See NOTE 1
+
ICC
Q4
VCC
MDC5001
VCC (4)
GND (2) & (3)
Q1
Q2
Q4
MDC5001
Vref (6)
VCC (4)
Iout (1)
GND (2) & (3)
Q1
Q2
Q4
MDC5001
Vref (6)
VCC (4)
Iout (1)
GND (2) & (3)
Q1
Q2
Q4
ENABLE
(5)
ENABLE
(5)
ENABLE
(5)
ENABLE
(5)
Figure 14. IENBL versus VENBL Test Circuit
Vref (6)
Iout (1)
Iout
+
VBE3 = 0.7 V
+
Iref = 30 A
Figure 15. Vref versus VENBL Test Circuit
VCC
Iout
+
VBE3 = 0.7 V
V
A
Iout
Vref
Iref
NOTE 1: VBE3 is used to simulate actual operating conditions that reduce VCE2 & HFE2, and increase IB2 & Vref.
+
VCC =
2.75 V
MDC5001
Q4
VCC (4)
GND (2) & (3)
Q1
Q2
+
VENBL
MDC5001
Vref (6)
VCC (4)
Iout (1)
GND (2) & (3)
Q1
Q2
+
VENBL
Q4
ENABLE
(5)
ENABLE
(5)
+
A
IENBL
See NOTE 1
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| MGW12N120 | Insulated Gate Bipolar Transistor |
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相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
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