參數(shù)資料
型號(hào)： ORSO82G5-2FN680I
廠商： Lattice Semiconductor Corporation
文件頁(yè)數(shù)： 148/153頁(yè)
文件大小： 0K
描述： IC TRANCEIVERS FPSC 680FPBGA
產(chǎn)品變化通告： Product Discontinuation 01/Aug/2011
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 24
系列： *
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Lattice Semiconductor
ORCA ORSO42G5 and ORSO82G5 Data Sheet
94
Table 33. SERDES Per-Block Control Register Descriptions – ORSO82G5
(0x)
Absolute
Address
Bit
Name
Reset
Value
(0x)
Description
Mode
SERDES Per-Block Control Register (Read/Write) xx = [AA,...,BD]
30005 - A
30105 - B
[0]
RSVD
44
Reserved
—
[1]
GMASK_[A:B]
Global Mask. When GMASK_[A:B] = 1, the
transmit and receive alarms of all channel in
the SERDES block are prevented from gener-
ating an alarm (i.e., they are masked or dis-
abled). The GMASK_[A:B] bit overrides the
individual MASK_xx bits. GMASK_[A:B] = 1
on device reset.
Both
[2]
GSWRST_[A:B]
Software reset bit. The GSWRST_[A:B] bit
provides the same function as the hardware
reset for the transmit and receive sections of
all four channels, except that the device con-
guration settings are not affected when
GSWRST_[A:B] is asserted. This is not a self-
clearing bit. Once set, this bit must be manu-
ally set and cleared. The GSWRST_[A:B] bit
overrides the individual SWRST_xx bits.
GSWRST_[A:B] = 0 on device reset.
Both
[3]
GPWRDNT_[A:B]
Powerdown Transmit Function. When
GPWRDNT_[A:B] = 1, sections of the transmit
hardware for all four channels are powered
down. The GPWRDNT_[A:B] bit overrides the
individual PWRDNT_xx bits.
GPWRDNT_[A:B] = 0 on device reset.
Both
[4]
GPWRDNR_[A:B]
Powerdown Receive Function. When
GPWRDNR_[A:B] = 1, sections of the receive
hardware for all four channels are powered
down. The GPWRDNR_[A:B] bit overrides the
individual PWRDNR_xx bits.
GPWRDNR_[A:B] = 0 on device reset.
Both
[5:6]
RSVD
Reserved
—
[7]
GTESTEN_[A:B]
Global Test Enable Bit. When
GTESTEN_[A:B] = 1, the transmit and receive
sections of all channels in the block are place
in test mode. The TESTMODE_xx bits
(30006, 30106, etc.) must be set to specify
the desired test on a per-channel basis. The
GTESTEN_[A:B] bits override the individual
TESTEN_xx settings.
Factory
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