參數(shù)資料
型號： PEB20532
廠商： INFINEON TECHNOLOGIES AG
英文描述： 2 Channel Serial Optimized Communication Controller
中文描述： 2通道串行通信控制器的優(yōu)化
文件頁數(shù)： 281/282頁
文件大?。?/td> 3623K
代理商： PEB20532
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PEB 20532
PEF 20532
Test Modes
Data Sheet
281
2000-09-14
EXTEST
is used to examine the interconnection of the devices on the board. In this test
mode at first all input pins
capture
the current level on the corresponding external
interconnection line, whereas all output pins are held at constant values (
‘
0
’
or
‘
1
’
,
according to
Table 31
). Then the contents of the boundary scan is
shifted
to TDO. At
the same time the next scan vector is loaded from TDI. Subsequently all output pins are
updated
according to the new boundary scan contents and all input pins again capture
the current external level afterwards, and so on.
INTEST
supports internal testing of the chip, i.e. the output pins
capture
the current level
on the corresponding internal line whereas all input pins are held on constant values (
‘
0
’
or
‘
1
’
, according to
Table 31
). The resulting boundary scan vector is
shifted
to TDO. The
next test vector is serially loaded via TDI. Then all input pins are
updated
for the
following test cycle.
Note: In capture IR-state the code
‘
001
’
is automatically loaded into the instruction
register, i.e. if INTEST is wanted the shift IR-state does not need to be passed.
SAMPLE/PRELOAD
is a test mode which provides a snap-shot of pin levels during
normal operation.
IDCODE
: A 32-bit identification register is serially read out via TDO. It contains the
version number (4 bits), the device code (16 bits) and the manufacturer code (11 bits).
The LSB is fixed to
‘
1
’
.
Note: Since in test logic reset state the code
‘
011
’
is automatically loaded into the
instruction register, the ID code can easily be read out in shift DR state which is
reached by TMS = 0, 1, 0, 0.
BYPASS
: A bit entering TDI is shifted to TDO after one TCK clock cycle.
Table 32
Instruction (Bit 2 … 0)
000
001
010
011
111
others
Boundary Scan Test Modes
Test Mode
EXTEST (external testing)
INTEST (internal testing)
SAMPLE/PRELOAD (snap-shot testing)
IDCODE (reading ID code)
BYPASS (bypass operation)
handled like BYPASS
TDI ->
0010
0000 0000 0101 1110
0000 1000 001
1 -> TDO
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PDF描述
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參數(shù)描述
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