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參數(shù)資料
| 型號： | SN54ABT834 |
| 廠商： | Texas Instruments, Inc. |
| 英文描述： | 8-Bit To 9-Bit Parity Bus Transceivers(8-9奇偶總線收發(fā)器) |
| 中文描述： | 8位到第9位奇偶總線收發(fā)器（8-9奇偶總線收發(fā)器） |
| 文件頁數(shù)： | 3/8頁 |
| 文件大?。?/td> | 142K |
| 代理商： | SN54ABT834 |
SN54ABT834, SN74ABT834
8-BIT TO 9-BIT PARITY BUS TRANSCEIVERS
SCBS168 – FEBRUARY 1991–REVISED OCTOBER 1992
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
3
logic diagram (positive logic)
ERR
CLR
OEA
OEB
8
8
8
8
8
9
“P”
MUX
1
1
1
G1
1
2k
1D
R
C1
EN
EN
8x
8x
A1–A8
CLK
PARITY
B1–B8
ERROR FLAG FUNCTION TABLE
INPUTS
INTERNAL
TO DEVICE
POINT “P”
H
X
L
X
OUTPUT
PRE-STATE
ERRn–1
H
L
X
X
OUTPUT
ERR
FUNCTION
CLR
H
H
H
L
CLK
↑
↑
↑
X
H
L
L
H
Sample
Clear
The state of the ERR output before any changes at CLR, CLK, or point “P”.
P
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| SN74ABT834 | 8-Bit To 9-Bit Parity Bus Transceivers(8-9奇偶總線收發(fā)器) |
| SN54ABT8373 | Scan Test Devices With Octal D-Type Latches(掃描測試裝置(帶八D鎖存器)) |
| SN74ABT8373 | Scan Test Devices With Octal D-Type Latches(掃描測試裝置(帶八D鎖存器)) |
| SN54ABT8374 | Scan Test Devices With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops(掃描測試裝置(帶八D邊沿觸發(fā)器)) |
| SN74ABT8374 | Scan Test Devices With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops(掃描測試裝置(帶八D邊沿觸發(fā)器)) |
相關代理商/技術參數(shù) |
參數(shù)描述 |
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| SN54ABT841 | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:10-BIT BUS-INTERFACE D-TYPE LATCHES WITH 3-STATE OUTPUTS |
| SN54ABT841FK | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:10-BIT BUS-INTERFACE D-TYPE LATCHES WITH 3-STATE OUTPUTS |
| SN54ABT841JT | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:10-BIT BUS-INTERFACE D-TYPE LATCHES WITH 3-STATE OUTPUTS |
| SN54ABT841W | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:10-BIT BUS-INTERFACE D-TYPE LATCHES WITH 3-STATE OUTPUTS |
| SN54ABT843 | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:9-BIT BUS-INTERFACE D-TYPE LATCHES WITH 3-STATE OUTPUTS |
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