參數(shù)資料
型號(hào)： AD8139ARDZ-REEL7
廠商： Analog Devices Inc
文件頁數(shù)： 10/25頁
文件大?。?/td> 0K
描述： IC AMP DIFF R-R LN LDIST 8SOIC
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 1,000
放大器類型： 差分
電路數(shù)： 1
輸出類型： 差分，滿擺幅
轉(zhuǎn)換速率： 800 V/µs
-3db帶寬： 410MHz
電流 - 輸入偏壓： 2.25µA
電壓 - 輸入偏移： 150µV
電流 - 電源： 24.5mA
電流 - 輸出 / 通道： 100mA
電壓 - 電源，單路/雙路(±)： 4.5 V ~ 12 V，±2.25 V ~ 6 V
工作溫度： -40°C ~ 125°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 8-SOIC（0.154"，3.90mm Width）裸露焊盤
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 8-SOIC-EP
包裝： 帶卷 (TR)
AD8139
Rev. B | Page 17 of 24
0.7
0.8
0.9
1.0
1.1
1.2
1.3
1.4
1.5
1.6
1.7
–40
–20
0
20
40
60
80
100
120
TEMPERATURE (°C)
V
OC
M
BI
AS
CURRE
N
T
(
A)
0
46
79
-06
3
Figure 55. VOCM Bias Current vs. Temperature
–6
–5
–4
–3
–2
–1
0
1
2
3
4
5
–4
–2
0
2
4
6
VOCM (V)
V
OC
M
BI
AS
C
URRE
NT
(
A)
VS = ±5V
VS = +5V
0
46
79
-07
4
Figure 56. VOCM Bias Current vs. VOCM Input Voltage
TEST CIRCUITS
RG = 200
60.4
50
VTEST
TEST
SIGNAL
SOURCE
50
RG = 200
VOCM
–
+
VO, dm
RF
CF
RF
RL, dm = 1k
AD8139
0
46
79-
072
Figure 57. Basic Test Circuit
RG = 200
60.4
50
VTEST
TEST
SIGNAL
SOURCE
50
RG = 200
VOCM
–
+
VO, dm
RF = 200
CL, dm
RL, dm
RS
AD8139
04
67
9-
07
5
Figure 58. Capacitive Load Test Circuit, G = +1
相關(guān)PDF資料
PDF描述
LTC6082IGN#TRPBF IC AMP R-R QUAD I/O 16-SSOP
FG450 FUSE INDUST 450A 550V BS IEC
170M4512 FUSE 400A 690V 1GN/50 AR UC
2-102699-8 CONN HEADER VERT 60POS PCB 30AU
2-102617-3 CONN HEADER R/A .100 50POS 15AU
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參數(shù)描述
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