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參數(shù)資料
| 型號： | DS26401DK |
| 廠商： | Maxim Integrated Products |
| 文件頁數(shù)： | 231/309頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | KIT DESIGN FOR DS26401 |
| 產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： | Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program |
| 設(shè)計(jì)資源： | DS26401DK Gerber Files |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 1 |
| 主要目的： | 電信，調(diào)幀器 |
| 已用 IC / 零件： | DS26401 |
| 已供物品： | 板，子卡，CD |
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DS26401 Octal T1/E1/J1 Framer
306
16.2 Instruction Register
The instruction register contains a shift register as well as a latched parallel output and is 3 bits in length. When the
TAP controller enters the Shift-IR state, the instruction shift register will be connected between JTDI and JTDO.
While in the Shift-IR state, a rising edge on JTCLK with JTMS LOW will shift the data one stage towards the serial
output at JTDO. A rising edge on JTCLK in the Exit1-IR state or the Exit2-IR state with JTMS HIGH will move the
controller to the Update-IR state. The falling edge of that same JTCLK will latch the data in the instruction shift
register to the instruction parallel output. Instructions supported by the DS26401 and its respective operational
binary codes are shown in Table 16-1.
Table 16-1. Instruction Codes for IEEE 1149.1 Architecture
INSTRUCTION
SELECTED REGISTER
INSTRUCTION CODES
SAMPLE/PRELOAD
Boundary Scan
010
BYPASS
Bypass
111
EXTEST
Boundary Scan
000
CLAMP
Bypass
011
HIGHZ
Bypass
100
IDCODE
Device Identification
001
SAMPLE/PRELOAD
This is a mandatory instruction for the IEEE 1149.1 specification. This instruction supports two functions. The digital
I/Os of the device can be sampled at the boundary scan register without interfering with the normal operation of the
device by using the Capture-DR state. SAMPLE/PRELOAD also allows the device to shift data into the boundary
scan register via JTDI using the Shift-DR state.
BYPASS
When the BYPASS instruction is latched into the parallel instruction register, JTDI connects to JTDO through the
one-bit bypass test register. This allows data to pass from JTDI to JTDO not affecting the device’s normal
operation.
EXTEST
This allows testing of all interconnections to the device. When the EXTEST instruction is latched in the instruction
register, the following actions occur. Once enabled via the Update-IR state, the parallel outputs of all digital output
pins will be driven. The boundary scan register will be connected between JTDI and JTDO. The Capture-DR will
sample all digital inputs into the boundary scan register.
CLAMP
All digital outputs of the device will output data from the boundary scan parallel output while connecting the bypass
register between JTDI and JTDO. The outputs will not change during the CLAMP instruction.
HIGHZ
All digital outputs of the device will be placed in a high impedance state. The BYPASS register will be connected
between JTDI and JTDO.
IDCODE
When the IDCODE instruction is latched into the parallel instruction register, the identification test register is
selected. The device identification code will be loaded into the identification register on the rising edge of JTCLK
following entry into the Capture-DR state. Shift-DR can be used to shift the identification code out serially via JTDO.
During Test-Logic-Reset, the identification code is forced into the instruction register’s parallel output. The ID code
will always have a ‘1’ in the LSB position. The next 11 bits identify the manufacturer’s JEDEC number and number
of continuation bytes followed by 16 bits for the device and 4 bits for the version.
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| DS26401NA2+ | 功能描述:網(wǎng)絡(luò)控制器與處理器 IC Octal T1/E1/J1 Framer RoHS:否 制造商:Micrel 產(chǎn)品:Controller Area Network (CAN) 收發(fā)器數(shù)量: 數(shù)據(jù)速率: 電源電流（最大值）:595 mA 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:PBGA-400 封裝:Tray |
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