Specifications ispLSI 2096VE 4 Input Pulse Levels Table 2-0003/2096VE Input Rise and Fall Time Input Timing Reference Levels Output Timing Refe" />
參數(shù)資料
型號： ISPLSI 2096VE-200LT128
廠商： Lattice Semiconductor Corporation
文件頁數(shù)： 8/13頁
文件大?。?/td> 0K
描述： IC PLD ISP 96I/O 4.5NS 128TQFP
標準包裝： 90
系列： ispLSI® 2000VE
可編程類型： 系統(tǒng)內(nèi)可編程
最大延遲時間 tpd(1)： 4.5ns
電壓電源 - 內(nèi)部： 3 V ~ 3.6 V
邏輯元件/邏輯塊數(shù)目： 24
宏單元數(shù)： 96
門數(shù)： 4000
輸入/輸出數(shù)： 96
工作溫度： 0°C ~ 70°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 128-LQFP
供應商設備封裝： 128-TQFP（14x14）
包裝： 托盤
其它名稱： ISPLSI2096VE-200LT128
Specifications ispLSI 2096VE
4
Input Pulse Levels
Table 2-0003/2096VE
Input Rise and Fall Time
Input Timing Reference Levels
Output Timing Reference Levels
Output Load
GND to 3.0V
≤ 1.5ns 10% to 90%
1.5V
See Figure 2
3-state levels are measured 0.5V from
steady-state active level.
TEST CONDITION
R1
R2
CL
A
316
348
35pF
B
∞
348
35pF
316
348
35pF
Active High
Active Low
C
316
348
5pF
∞
348
5pF
Active Low to Z
at V +0.5V
OL
Active High to Z
at V
-0.5V
OH
Table 2-0004/2096VE
VOL
SYMBOL
1. One output at a time for a maximum duration of one second. V
= 0.5V was selected to avoid test
problems by tester ground degradation. Characterized but not 100% tested.
2. Measured using six 16-bit counters.
3. Typical values are at V = 3.3V and T = 25°C.
4. Maximum I
varies widely with specific device configuration and operating frequency. Refer to the Power Consumption
section of this data sheet and Thermal Management section of the Lattice Semiconductor Data Book or CD-ROM to
estimate maximum I
.
Table 2-0007A/2096VE
1
VOH
IIH
IIL
IIL-isp
PARAMETER
IIL-PU
IOS
2, 4
ICC
Output Low Voltage
Output High Voltage
Input or I/O High Leakage Current
Input or I/O Low Leakage Current
BSCAN Input Low Leakage Current
I/O Active Pull-Up Current
Output Short Circuit Current
Operating Power Supply Current
I = 8 mA
I
= -4 mA
0V ≤ V ≤ V (Max.)
0V ≤ V ≤ V
V = 3.3V, V
= 0.5V
V = 0.0V, V = 3.0V
f
= 1 MHz
OL
OH
IN
IL
IN
IL
IN
IL
CC
OUT
CLOCK
IL
IH
CONDITION
MIN.
TYP.
MAX.
UNITS
3
–
2.4
–
125
0.4
–
10
-10
-150
-100
–
V
A
mA
CC
A
OUT
CC
(V
– 0.2)V ≤ V ≤ V
V ≤ V ≤ 5.25V
IN
CC
IN
CC
+ 3.3V
R1
R2
CL*
Device
Output
Test
Point
*CL includes Test Fixture and Probe Capacitance.
0213A/2096VE
Figure 2. Test Load
Switching Test Conditions
Output Load Conditions (see Figure 2)
DC Electrical Characteristics
Over Recommended Operating Conditions
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PDF描述
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