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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | NS7520B-1-I46 |
| 廠商： | Digi International |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 13/68頁(yè) |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC ARM MICROPROCESSOR 177BGA |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 160 |
| 系列： | NET+ARM® |
| 應(yīng)用： | 網(wǎng)絡(luò)處理器 |
| 核心處理器： | ARM7 |
| 程序存儲(chǔ)器類型： | 外部程序存儲(chǔ)器 |
| RAM 容量： | 外部 |
| 接口： | EBI/EMI，以太網(wǎng)，DMA，SPI，UART |
| 輸入/輸出數(shù)： | 16 |
| 電源電壓： | 1.4 V ~ 3.6 V |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 177-LFBGA |
| 包裝： | 托盤 |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 177-BGA（13x13） |
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System mod e (test supp ort)
16
NS 75 20 Da ta shee t
03 /2 00 6
System mode (test support)
PLLTST_, BISTEN_, and SCANEN_ primary inputs control different test modes for both functional
and manufacturing test operations (see Table 3: "NS7520 test modes" on page 22).
JTAG test
JTAG boundary scan allows a tester to check the soldering of all signal pins and tri-state all
outputs.
ARM debugger signal descriptions
Symbol
Pin
I/O
OD
Description
PLLTST_
N15
I
Encoded with BISTEN_ and SCANEN_
Add an external pullup to 3.3V or pulldown to GND.
BISTEN_
M15
I
Encoded with PLLTST_ and SCANEN_
Add an external pullup to 3.3V or pulldown to GND.
SCANEN_
L13
I
Encoded with BISTEN_ and PLLTST_
Add an external pullup to 3.3V or pulldown to GND.
Symbol
Pin
I/O
OD
Description
TDI
N14 U
I
Test data in.
TDO
M13
O
2
Test data out.
TMS
M12 U
I
Test mode select.
TRST_
M14
I
Test mode reset.
Requires external termination when not being used (see
illustration of the termination circuit on the development
PCB).
TCK
P15
I
Test mode clock.
Add an external pullup to 3.3V.
Mnemonic
Signal
Description
TDI
Test data in
TDI operates the JTAG standard. Consult the JTAG specifications
for use in boundary-scan testing. These signals meet the
requirements of the Raven and Jeeni debuggers.
TDO
Test data out
TDO operates the JTAG standard. Consult the JTAG specifications
for use in boundary-scan testing. These signals meet the
requirements of the Raven and Jeeni debuggers.
TMS
Test mode select
TMS operates the JTAG standard. Consult the JTAG specifications
for use in boundary-scan testing. These signals meet the
requirements of the Raven and Jeeni debuggers.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| NS7520B-1-C36 | IC ARM MICROPROCESSOR 177BGA |
| 305-024-500-201 | CONN CARDEDGE 24POS .156 GREEN |
| FT24C32A-USR-T | IC EEPROM 32KBIT 1MHZ 8SOP |
| 395-024-542-804 | CARD EDGE 24POS DL .100X.200 BLK |
| AT97SC3204-DX2A12-20 | IC CRYPTO DC7-HARI LPC 28TSSOP |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| NS7520B-1-I55 | 功能描述:IC ARM MICROPROCESSOR 177BGA RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - 微控制器 - 特定應(yīng)用 系列:NET+ARM® 產(chǎn)品變化通告:Product Discontinuation 26/Aug/2009 標(biāo)準(zhǔn)包裝:250 系列:- 應(yīng)用:網(wǎng)絡(luò)處理器 核心處理器:4Kc 程序存儲(chǔ)器類型:- 控制器系列:- RAM 容量:16K x 8 接口:以太網(wǎng)，UART，USB 輸入/輸出數(shù):- 電源電壓:1.8V, 3.3V 工作溫度:- 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:208-LQFP 包裝:帶卷 (TR) 供應(yīng)商設(shè)備封裝:PG-LQFP-208 其它名稱:SP000314382 |
| NS752AL | 制造商:Hubbell Wiring Device-Kellems 功能描述:PLATE, 1GANG,W/2 F-CONNECTORS,AL |
| NS752I | 制造商:Hubbell Wiring Device-Kellems 功能描述:PLATE, 1GANG,W/2 F-CONNECTORS,EI |
| NS752LA | 制造商:Hubbell Wiring Device-Kellems 功能描述:PLATE, 1GANG,W/2 F-CONNECTORS,LA |
| NS752W | 制造商:Hubbell Wiring Device-Kellems 功能描述:PLATE, 1GANG,W/2 F-CONNECTORS,WH |
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