- 您現(xiàn)在的位置：買賣IC網(wǎng) > PDF目錄371434 > 28F008C3 (Intel Corp.) 3 VOLT ADVANCED+ BOOT BLOCK 8-, 16-, 32-MBIT FLASH MEMORY FAMILY PDF資料下載
參數(shù)資料
| 型號： | 28F008C3 |
| 廠商： | Intel Corp. |
| 英文描述： | 3 VOLT ADVANCED+ BOOT BLOCK 8-, 16-, 32-MBIT FLASH MEMORY FAMILY |
| 中文描述： | 3伏高級啟動塊8 - ，16 - ，32 - Mbit閃存家庭 |
| 文件頁數(shù)： | 38/49頁 |
| 文件大?。?/td> | 408K |
| 代理商： | 28F008C3 |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁當前第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁
SMART 3 ADVANCED BOOT BLOCK
–BYTE-WIDE
E
38
PRELIMINARY
TEST POINTS
INPUT
OUTPUT
V
CCQ
0.0
V
CCQ
2
V
CCQ
2
0605-011
NOTE:
AC test inputs are driven at V
CCQ
for a logic
“1” and 0.0V for a logic “0.” Input timing begins, and output timing ends, at V
CCQ
/2.
Input rise and fall times (10%–90%) <10 ns. For worst case speed conditions V
CCQ
=1.8V.
Figure 12. 1.8V
—2.2V Input Range and Measurement Points
C
L
Out
V
CCQ
Device
under
Test
R
1
R
2
0605-012
NOTE:
See table for component values.
Figure 13. Test Configuration
Test Configuration Component Values
for Worst Case Speed Conditions
Test Configuration
C
L
(pF)
R
1
(
) R
2
(
)
1.8V Standard Test
50
16.7K
16.7K
NOTE:
C
L
includes jig capacitance.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| 28F008SA | 8-MBIT (1-MBIT x 8) FlashFileTM MEMORY |
| 28F008SA-L | 8-MBIT (1 MBIT x 8) FLASHFILETM MEMORY |
| 28F008S3 | 3 V FlashFile Memory(3V閃速存儲器) |
| 28F016S3 | 3 V FlashFile Memory(3V閃速存儲器) |
| 28F008S5 | 8-MBIT 5 VOLT FlashFile Memory(8M位5V閃速存儲器) |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| 28F008S3 | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:Byte-Wide Smart 3 Flashfile Memory Family 4 8 and |
| 28F008S5 | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:BYTE-WIDE SMART 5 FlashFile MEMORY FAMILY 4. 8. AND 16 MBIT |
| 28F008SA | 制造商:INTEL 制造商全稱:Intel Corporation 功能描述:8 MBIT (1 MBIT x 8) FLASH MEMORY |
| 28F008SA-L | 制造商:INTEL 制造商全稱:Intel Corporation 功能描述:8 MBIT (1 MBIT x 8) FLASH MEMORY |
| 28F008SAT-ZW | 制造商: 功能描述: 制造商:undefined 功能描述: |
發(fā)布緊急采購，3分鐘左右您將得到回復。