- 您現(xiàn)在的位置：買賣IC網 > PDF目錄378406 > ARM7TDMI (LSI Corporation) 32-Bit Advanced RISC Machines(ARM) Microprocessor Core(32位ARM微處理器內核芯片) PDF資料下載
參數(shù)資料
| 型號： | ARM7TDMI |
| 廠商： | LSI Corporation |
| 英文描述： | 32-Bit Advanced RISC Machines(ARM) Microprocessor Core(32位ARM微處理器內核芯片) |
| 中文描述： | 32位先進RISC機器公司（ARM）的微處理器核心（32位ARM的微處理器內核芯片） |
| 文件頁數(shù)： | 130/208頁 |
| 文件大?。?/td> | 2420K |
| 代理商： | ARM7TDMI |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁當前第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁第158頁第159頁第160頁第161頁第162頁第163頁第164頁第165頁第166頁第167頁第168頁第169頁第170頁第171頁第172頁第173頁第174頁第175頁第176頁第177頁第178頁第179頁第180頁第181頁第182頁第183頁第184頁第185頁第186頁第187頁第188頁第189頁第190頁第191頁第192頁第193頁第194頁第195頁第196頁第197頁第198頁第199頁第200頁第201頁第202頁第203頁第204頁第205頁第206頁第207頁第208頁
8-20
Debug Interface
Figure 8.6
Input Scan Cell
For output cells, capture involves placing the value of a core’s output into
the serial register. During shift, this value is serially output as before. The
value applied to the system from an output cell is either the core output,
or the contents of the serial register.
All the control signals for the scan cells are generated internally by the
TAP controller. The action of the TAP controller is determined by the
current instruction, and the state of the TAP state machine. This is
described below.
There are three basic modes of operation of the scan chains, INTEST,
EXTEST and SYSTEM, and these are selected by the various TAP
controller instructions. In SYSTEM mode, the scan cells are idle. System
data is applied to inputs, and core outputs are applied to the system. In
INTEST mode, the core is internally tested. The data serially scanned in
is applied to the core, and the resulting outputs are captured in the output
cells and scanned out. In EXTEST mode, data is scanned onto the core's
outputs and applied to the external system. System input data is
captured in the input cells and then shifted out.
Note:
The scan cells are not fully JTAG compliant in that they do
not have an Update stage. Therefore, while data is being
moved around the scan chain, the contents of the scan cell
is not isolated from the output. Thus the output from the
scan cell to the core or to the external system could change
on every scan clock.
Shift
Register
Latch
System Data In
SHIFT Clock
Data to
Core
Serial Data In
Serial Data Out
CAPTURE Clock
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| ART10012T | 28V Input, Triple Output / HYBRID - HIGH RELIABILITY RADIATION HARDENED DC/DC CONVERTER |
| ART10015T | 28V Input, Triple Output / HYBRID - HIGH RELIABILITY RADIATION HARDENED DC/DC CONVERTER |
| ART2812T | 28V Input, Triple Output / HYBRID - HIGH RELIABILITY RADIATION HARDENED DC/DC CONVERTER |
| ART28XXT | 28V Input, Triple Output / HYBRID - HIGH RELIABILITY RADIATION HARDENED DC/DC CONVERTER |
| AS115-61 | GaAs IC SP4T Non-Reflective Switch DC-2 GHz |
相關代理商/技術參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| ARM7TDMI_G | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:Technical Reference Manual |
| ARM7TDMI-S | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:周立功的中文ARM7TDI文檔 |
| ARM920T | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:System-on-Chip Platform OS Processor |
| ARM940T | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:TECHNICAL REFERENCE MANUAL |
| ARM946E-S | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:ARM946E-S Microprocessor Core with Cache technical manual 6/01 |
發(fā)布緊急采購，3分鐘左右您將得到回復。