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參數(shù)資料
| 型號： | ARM7TDMI |
| 廠商： | LSI Corporation |
| 英文描述： | 32-Bit Advanced RISC Machines(ARM) Microprocessor Core(32位ARM微處理器內核芯片) |
| 中文描述： | 32位先進RISC機器公司（ARM）的微處理器核心（32位ARM的微處理器內核芯片） |
| 文件頁數(shù)： | 29/208頁 |
| 文件大?。?/td> | 2420K |
| 代理商： | ARM7TDMI |
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Bus Control Interface
2-5
BIGEND
Big Endian Configuration
When this signal is HIGH the processor treats bytes in
memory as being in Big Endian format. When it is LOW,
memory is treated as Little Endian.
Input
BUSDIS
Bus Disable
This signal is HIGH when
INTEST
is selected on scan
chain 0 or 4 and may be used to disable external logic
driving onto the bidirectional data bus during scan
testing. This signal changes on the falling edge of TCK.
Output
BUSEN
Data Bus Configuration
This is a static configuration signal which determines
whether the bidirectional data bus, D[31:0], or the
unidirectional data buses, DIN[31:0] and DOUT[31:0], are
to be used for transfer of data between the processor and
memory. Refer also to
Chapter 6, "Memory Interface"
.
Input
When BUSEN is LOW, the bidirectional data bus, D[31:0]
is used. In this case, DOUT[31:0] is driven to value
0x00000000, and any data presented on DIN[31:0] is
ignored.
When BUSEN is HIGH, the bidirectional data bus,
D[31:0] is ignored and must be left unconnected. Input
data and instructions are presented on the input data
bus, DIN[31:0], output data appears on DOUT[31:0].
DBE
Data Bus Enable
This is an input signal which, when driven LOW, puts the
data bus D[31:0] into the high impedance state. This is
included for test purposes, and should be tied HIGH at all
times.
Input
ECAPCLK
Extest Capture Clock
This signal removes the need for the external logic in the
test chip which was required to enable the internal
3-state bus during scan testing. This need not be brought
out as an external pin on the test chip.
Output
HIGHZ
Output
This signal denotes that the
HIGHZ
instruction has been
loaded into the TAP controller. See
Chapter 8, "Debug
Interface"
for details.
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| ART10012T | 28V Input, Triple Output / HYBRID - HIGH RELIABILITY RADIATION HARDENED DC/DC CONVERTER |
| ART10015T | 28V Input, Triple Output / HYBRID - HIGH RELIABILITY RADIATION HARDENED DC/DC CONVERTER |
| ART2812T | 28V Input, Triple Output / HYBRID - HIGH RELIABILITY RADIATION HARDENED DC/DC CONVERTER |
| ART28XXT | 28V Input, Triple Output / HYBRID - HIGH RELIABILITY RADIATION HARDENED DC/DC CONVERTER |
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相關代理商/技術參數(shù) |
參數(shù)描述 |
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