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參數(shù)資料
| 型號： | LFXP20E-5FN484C |
| 廠商： | Lattice Semiconductor Corporation |
| 文件頁數(shù)： | 240/397頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FPGA 19.7KLUTS 340I/O 484-BGA |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 60 |
| 系列： | XP |
| 邏輯元件/單元數(shù)： | 20000 |
| RAM 位總計： | 405504 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 340 |
| 電源電壓： | 1.14 V ~ 1.26 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 484-BBGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 484-FPBGA（23x23） |
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13-15
Lattice Semiconductor
LatticeXP sysCONFIG Usage Guide
Transparent Readback
The ispJTAG Transparent Readback mode allows the user to read the content of the device SRAM or Flash while
the device remains in a functional state. Care must be exercised when reading EBR and distributed RAM, as it is
possible to cause conflicts with accesses from the user design (causing possible data corruption).
The I/O and non-JTAG configuration pins remain active during a Transparent Readback. The device enters the
Transparent Readback mode through a JTAG instruction.
Boundary Scan and BSDL Files
BSDL files for this device can be found on the Lattice web site at www.latticesemi.com. The boundary scan ring
covers all of the I/O pins, as well as the dedicated and dual-purpose sysCONFIG pins.
Power Save Mode
An I/O Power Save mode option is available for the LatticeXP device and will deactivate portions of the I/O cell driv-
ers. This is only valid when using comparator type inputs pins (pins that use VREF), like HSTL, SSTL, etc.
Power Save mode limits some of the functionality of Boundary Scan. For Boundary Scan testing it is recommended
that the I/O Power Save mode be set to OFF so that all of the I/Os will be fully functional.
Wake Up Options
When configuration is complete (the SRAM has been loaded), the device should wake up in a predictable fashion.
The following selections determine how the device will wake up. Two synchronous wake up processes are avail-
able. One automatically wakes the device up when the internal Done bit is set regardless of whether the DONE pin
is held low externally or not, the other waits for the DONE pin to be driven high before starting the wake up process.
The DONE_EX preference determines whether the external DONE pin will control the synchronous wake up.
Wake Up Sequence
Table 13-8 provides a list of the wake up sequences supported by the LatticeXP.
Table 13-8. Wake Up Sequences Supported by LatticeXP
Sequence
Phase T0
Phase T1
Phase T2
Phase T3
1
DONE
GOE, GWDIS, GSR
2
DONE
GOE, GWDIS, GSR
3
DONE
GOE, GWDIS, GSR
4
DONE
GOE
GWDIS, GSR
5
DONE
GOE
GWDIS, GSR
6
DONE
GOE
GWDIS
GSR
7
DONE
GOE
GSR
GWDIS
8
DONE
GOE, GWDIS, GSR
9
DONE
GOE, GWDIS, GSR
10
DONE
GWDIS, GSR
GOE
11
DONE
GOE
GWDIS, GSR
12
DONE
GOE, GWDIS, GSR
13
GOE, GWDIS, GSR
DONE
14
GOE
DONE
GWDIS, GSR
15
GOE, GWDIS
DONE
GSR
16
GWDIS
DONE
GOE, GSR
17
GWDIS, GSR
DONE
GOE
18
GOE, GSR
DONE
GWDIS
19
GOE, GWDIS, GSR
DONE
20
GOE, GWDIS, GSR
DONE
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| LFXP20C-5FN484C | IC FPGA 19.7KLUTS 340I/O 484-BGA |
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參數(shù)描述 |
|---|---|
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