- 您現(xiàn)在的位置：買賣IC網(wǎng) > PDF目錄25635 > S80C32-40SHXXX:RD (ATMEL CORP) 8-BIT, 40 MHz, MICROCONTROLLER, PQCC44 PDF資料下載
參數(shù)資料
| 型號： | S80C32-40SHXXX:RD |
| 廠商： | ATMEL CORP |
| 元件分類： | 微控制器/微處理器 |
| 英文描述： | 8-BIT, 40 MHz, MICROCONTROLLER, PQCC44 |
| 封裝： | PLASTIC, LCC-44 |
| 文件頁數(shù)： | 963/1021頁 |
| 文件大?。?/td> | 15196K |
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18頁第1019頁第1020頁第1021頁
946
32072H–AVR32–10/2012
AT32UC3A3
1.
Select the IR Scan path.
2.
In Capture-IR: The IR output value is latched into the shift register.
3.
In Shift-IR: The instruction register is shifted by the TCK input.
4.
Return to Run-Test/Idle.
5.
Select the DR Scan path.
6.
In Capture-DR: The Data on the external pins are sampled into the boundary-scan
chain.
7.
In Shift-DR: The boundary-scan chain is shifted by the TCK input.
8.
Return to Run-Test/Idle.
35.5.2.3
EXTEST
This instruction selects the boundary-scan chain as Data Register for testing circuitry external to
the 32-bit AVR package. The contents of the latched outputs of the boundary-scan chain is
driven out as soon as the JTAG IR-register is loaded with the EXTEST instruction.
Starting in Run-Test/Idle, the EXTEST instruction is accessed the following way:
1.
Select the IR Scan path.
2.
In Capture-IR: The IR output value is latched into the shift register.
3.
In Shift-IR: The instruction register is shifted by the TCK input.
4.
In Update-IR: The data from the boundary-scan chain is applied to the output pins.
5.
Return to Run-Test/Idle.
6.
Select the DR Scan path.
7.
In Capture-DR: The data on the external pins is sampled into the boundary-scan chain.
8.
In Shift-DR: The boundary-scan chain is shifted by the TCK input.
9.
In Update-DR: The data from the scan chain is applied to the output pins.
10. Return to Run-Test/Idle.
Table 35-11. SAMPLE_PRELOAD Details
Instructions
Details
IR input value
00010 (0x02)
IR output value
p0001
DR Size
Depending on boundary-scan chain, see BSDL-file.
DR input value
Depending on boundary-scan chain, see BSDL-file.
DR output value
Depending on boundary-scan chain, see BSDL-file.
Table 35-12. EXTEST Details
Instructions
Details
IR input value
00011 (0x03)
IR output value
p0001
DR Size
Depending on boundary-scan chain, see BSDL-file.
DR input value
Depending on boundary-scan chain, see BSDL-file.
DR output value
Depending on boundary-scan chain, see BSDL-file.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| S80C52XXX-12:RD | 8-BIT, MROM, 12 MHz, MICROCONTROLLER, PQCC44 |
| SC-80C32E-30/883 | 8-BIT, 30 MHz, MICROCONTROLLER, CDIP40 |
| S80C52XXX-16R | 8-BIT, MROM, 16 MHz, MICROCONTROLLER, PQCC44 |
| S80C32XXX-40R | 8-BIT, 40 MHz, MICROCONTROLLER, PQCC44 |
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相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| S80C32-42 | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:8-Bit Microcontroller |
| S80C32-42R | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:8-Bit Microcontroller |
| S80C32-44 | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:8-Bit Microcontroller |
| S80C32-44R | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:8-Bit Microcontroller |
| S80C32-L16 | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:8-Bit Microcontroller |
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