參數(shù)資料
型號(hào): SN74ABT8240
廠商: Texas Instruments, Inc.
英文描述: Scan Test Devices With Octal Buffers(掃描測(cè)試裝置(帶八緩沖器))
中文描述: 掃描測(cè)試設(shè)備與八路緩沖器(掃描測(cè)試裝置(帶八緩沖器))
文件頁(yè)數(shù): 2/19頁(yè)
文件大小: 391K
代理商: SN74ABT8240
SN54ABT8240, SN74ABT8240
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS
SCBS484 – JULY 1994
3–2
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
FUNCTION TABLE
(normal mode)
INPUTS
OUTPUT
Y
OE
H
A
X
Z
L
L
H
L
H
L
functional block diagram
Boundary-Control
Register
Bypass Register
Boundary-Scan Register
Instruction Register
TDI
TMS
TCK
TDO
TAP
Controller
VCC
VCC
One of Four Channels
14
12
13
11
2A1
2Y1
19
7
24
2OE
One of Four Channels
1A1
1Y1
23
2
1
1OE
Pin numbers shown are for the DW and JT packages.
P
相關(guān)PDF資料
PDF描述
SN54ABT8244 Scan Test Devices With Octal Buffers(掃描測(cè)試裝置(帶八緩沖器))
SN74ABT8244 Scan Test Devices With Octal Buffers(掃描測(cè)試裝置(帶八緩沖器))
SN54ABT828 10-Bit Buffers/Drivers With 3-State Outputs(10位緩沖器/驅(qū)動(dòng)器(三態(tài)輸出))
SN74ABT828 10-Bit Buffers/Drivers With 3-State Outputs(10位緩沖器/驅(qū)動(dòng)器(三態(tài)輸出))
SN54ABT834 8-Bit To 9-Bit Parity Bus Transceivers(8-9奇偶總線收發(fā)器)
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù)
參數(shù)描述
SN74ABT8245DW 功能描述:特定功能邏輯 Scan Test Device RoHS:否 制造商:Texas Instruments 產(chǎn)品: 系列:SN74ABTH18502A 工作電源電壓:5 V 封裝 / 箱體:LQFP-64 封裝:Tube
SN74ABT8245DWE4 功能描述:特定功能邏輯 Scan Test Device w/Octal Bus Trnscvr RoHS:否 制造商:Texas Instruments 產(chǎn)品: 系列:SN74ABTH18502A 工作電源電壓:5 V 封裝 / 箱體:LQFP-64 封裝:Tube
SN74ABT8245DWG4 功能描述:特定功能邏輯 Scan Test Devices RoHS:否 制造商:Texas Instruments 產(chǎn)品: 系列:SN74ABTH18502A 工作電源電壓:5 V 封裝 / 箱體:LQFP-64 封裝:Tube
SN74ABT8245DWR 功能描述:特定功能邏輯 Scan Test Device RoHS:否 制造商:Texas Instruments 產(chǎn)品: 系列:SN74ABTH18502A 工作電源電壓:5 V 封裝 / 箱體:LQFP-64 封裝:Tube
SN74ABT8245DWRE4 功能描述:特定功能邏輯 Scan Test Device w/Octal Bus Trnscvr RoHS:否 制造商:Texas Instruments 產(chǎn)品: 系列:SN74ABTH18502A 工作電源電壓:5 V 封裝 / 箱體:LQFP-64 封裝:Tube