參數(shù)資料
型號(hào)： SN74ABT8374
廠商： Texas Instruments, Inc.
英文描述： Scan Test Devices With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops(掃描測(cè)試裝置(帶八D邊沿觸發(fā)器))
中文描述： 掃描測(cè)試設(shè)備與八路D型邊沿觸發(fā)正反器（掃描測(cè)試裝置（帶八?邊沿觸發(fā)器））
文件頁(yè)數(shù)： 8/19頁(yè)
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代理商： SN74ABT8374
SN54ABT8374, SN74ABT8374
SCAN TEST DEVICES WITH
OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
SCBS486 – JULY 1994
3–8
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
Table 1. Boundary-Scan-Register Configuration
BSR BIT
NUMBER
DEVICE
SIGNAL
BSR BIT
NUMBER
DEVICE
SIGNAL
BSR BIT
NUMBER
DEVICE
SIGNAL
17
CLK
15
8D
7
8Q
16
OE
14
7D
6
7Q
––
––
13
6D
5
6Q
––
––
12
5D
4
5Q
––
––
11
4D
3
4Q
––
––
10
3D
2
3Q
––
––
9
2D
1
2Q
––
––
8
1D
0
1Q
boundary-control register
The boundary-control register (BCR) is 11 bits long. The BCR is used in the context of the RUNT instruction to
implement additional test operations not included in the basic SCOPE
instruction set. Such operations include
PRPG, PSA with input masking, and binary count up (COUNT). Table 4 shows the test operations decoded by
the BCR.
During Capture-DR, the contents of the BCR are not changed. At power up or in Test-Logic-Reset, the BCR is
reset to the binary value 00000000010, which selects the PSA test operation with no input masking.
The BCR order of scan is from TDI through bits 10–0 to TDO. Table 2 shows the BCR bits and their associated
test control signals.
Table 2. Boundary-Control-Register Configuration
BCR BIT
NUMBER
TEST
CONTROL
SIGNAL
BCR BIT
NUMBER
TEST
CONTROL
SIGNAL
BCR BIT
NUMBER
TEST
CONTROL
SIGNAL
10
MASK8
6
MASK4
2
OPCODE2
9
MASK7
5
MASK3
1
OPCODE1
8
MASK6
4
MASK2
0
OPCODE0
7
MASK5
3
MASK1
––
––
bypass register
The bypass register is a 1-bit scan path that can be selected to shorten the length of the system scan path,
thereby reducing the number of bits per test pattern that must be applied to complete a test operation.
During Capture-DR, the bypass register captures a logic 0. The bypass register order of scan is illustrated in
Figure 3.
Bit 0
TDO
TDI
Figure 3. Bypass Register Order of Scan
P
相關(guān)PDF資料
PDF描述
SN54ABT845 Octal Bus Interface D-Type Latches With 3-State Outputs(八總線接口D鎖存器(三態(tài)輸出))
SN74ABT845 Octal Bus Interface D-Type Latches With 3-State Outputs(八總線接口D觸發(fā)器(三態(tài)輸出))
SN54ABT8543FK SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS
SN54ABT8543JT SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS
SN54ABT854 8-Bit To 9-Bit Parity Bus Transceivers(8-9奇偶總線收發(fā)器)
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù)
參數(shù)描述
SN74ABT841ADBR 功能描述:閉鎖 10bit Bus D RoHS:否 制造商:Micrel 電路數(shù)量:1 邏輯類型:CMOS 邏輯系列:TTL 極性:Non-Inverting 輸出線路數(shù)量:9 高電平輸出電流: 低電平輸出電流: 傳播延遲時(shí)間: 電源電壓-最大:12 V 電源電壓-最小:5 V 最大工作溫度:+ 85 C 最小工作溫度:- 40 C 封裝 / 箱體:SOIC-16 封裝:Reel
SN74ABT841ADBRE4 功能描述:閉鎖 10bit Bus D RoHS:否 制造商:Micrel 電路數(shù)量:1 邏輯類型:CMOS 邏輯系列:TTL 極性:Non-Inverting 輸出線路數(shù)量:9 高電平輸出電流: 低電平輸出電流: 傳播延遲時(shí)間: 電源電壓-最大:12 V 電源電壓-最小:5 V 最大工作溫度:+ 85 C 最小工作溫度:- 40 C 封裝 / 箱體:SOIC-16 封裝:Reel
SN74ABT841ADBRG4 功能描述:閉鎖 10B Bus-Interface D-Type RoHS:否 制造商:Micrel 電路數(shù)量:1 邏輯類型:CMOS 邏輯系列:TTL 極性:Non-Inverting 輸出線路數(shù)量:9 高電平輸出電流: 低電平輸出電流: 傳播延遲時(shí)間: 電源電壓-最大:12 V 電源電壓-最小:5 V 最大工作溫度:+ 85 C 最小工作溫度:- 40 C 封裝 / 箱體:SOIC-16 封裝:Reel
SN74ABT841ADW 功能描述:閉鎖 10bit Bus D RoHS:否 制造商:Micrel 電路數(shù)量:1 邏輯類型:CMOS 邏輯系列:TTL 極性:Non-Inverting 輸出線路數(shù)量:9 高電平輸出電流: 低電平輸出電流: 傳播延遲時(shí)間: 電源電壓-最大:12 V 電源電壓-最小:5 V 最大工作溫度:+ 85 C 最小工作溫度:- 40 C 封裝 / 箱體:SOIC-16 封裝:Reel
SN74ABT841ADWG4 功能描述:閉鎖 10B Bus-Interface D-Type RoHS:否 制造商:Micrel 電路數(shù)量:1 邏輯類型:CMOS 邏輯系列:TTL 極性:Non-Inverting 輸出線路數(shù)量:9 高電平輸出電流: 低電平輸出電流: 傳播延遲時(shí)間: 電源電壓-最大:12 V 電源電壓-最小:5 V 最大工作溫度:+ 85 C 最小工作溫度:- 40 C 封裝 / 箱體:SOIC-16 封裝:Reel
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