參數(shù)資料
型號(hào)： DSPB56366AG120
廠商： Freescale Semiconductor
文件頁(yè)數(shù)： 29/110頁(yè)
文件大?。?/td> 0K
描述： IC DSP 24BIT AUD 120MHZ 144-LQFP
產(chǎn)品變化通告： Product Discontinuation 24/Feb/2012
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 60
系列： DSP56K/Symphony
類(lèi)型： 音頻處理器
接口： 主機(jī)接口，I²C，SAI，SPI
時(shí)鐘速率： 120MHz
非易失內(nèi)存： ROM（240 kB）
芯片上RAM： 69kB
電壓 - 輸入/輸出： 3.30V
電壓 - 核心： 3.30V
工作溫度： -40°C ~ 110°C
安裝類(lèi)型： 表面貼裝
封裝/外殼： 144-LQFP
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 144-LQFP（20x20）
包裝： 托盤(pán)
DSP56366 Technical Data, Rev. 3.1
Freescale Semiconductor
2-21
2.13
JTAG/OnCE Interface
Table 2-15 JTAG/OnCE Interface
Signal
Name
Signal
Type
State during
Reset
Signal Description
TCK
Input
Test Clock—TCK is a test clock input signal used to synchronize the JTAG test
logic. It has an internal pull-up resistor.
This input is 5 V tolerant.
TDI
Input
Test Data Input—TDI is a test data serial input signal used for test instructions and
data. TDI is sampled on the rising edge of TCK and has an internal pull-up resistor.
This input is 5 V tolerant.
TDO
Output
Tri-stated
Test Data Output—TDO is a test data serial output signal used for test instructions
and data. TDO is tri-statable and is actively driven in the shift-IR and shift-DR
controller states. TDO changes on the falling edge of TCK.
TMS
Input
Test Mode Select—TMS is an input signal used to sequence the test controller’s
state machine. TMS is sampled on the rising edge of TCK and has an internal
pull-up resistor.
This input is 5 V tolerant.
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PDF描述
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