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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | HN29W12814A |
| 廠商： | Hitachi,Ltd. |
| 英文描述： | 128M AND type Flash Memory(128M AND型閃速存儲(chǔ)器) |
| 中文描述： | 128M的AND型快閃記憶體（128兆及型閃速存儲(chǔ)器） |
| 文件頁數(shù)： | 20/32頁 |
| 文件大?。?/td> | 289K |
| 代理商： | HN29W12814A |
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HN29W12814A Series
20
Power on and off, Serial Read Mode (1) and (2)
Parameter
Symbol
Min
Max
Unit
Test conditions
Note
Write cycle time
t
CWC
t
SCC
t
CES
t
CEH
t
WP
t
WPH
t
AS
t
AH
t
DS
t
DH
t
SAC
t
OES
t
OEL
t
OEPS
120
—
ns
Serial clock cycle time
CE
setup time
CE
hold time
50
—
ns
0
—
ns
0
—
ns
Write pulse time
60
—
ns
CE
= V
IL
,
OE
= V
IH
Write pulse high time
40
—
ns
Address setup time
50
—
ns
Address hold time
10
—
ns
Data setup time
50
—
ns
Data hold time
10
—
ns
SC to output delay
OE
setup time for SC
OE
low to output low-Z
OE
setup time before read
OE
setup time before command write t
OEWS
SC to output hold
OE
high to output float
WE
to SC delay time
RES
to
CE
setup time
SC to
CE
,
OE
hold time
—
50
ns
CE
=
OE
= V
IL
,
WE
= V
IH
0
—
ns
0
—
ns
40
—
ns
0
—
ns
t
SH
t
DF
t
WSD
t
RP
t
SCH
t
SP
t
SPL
t
SCS
t
CDS
t
CDH
t
RES
t
CESR
t
DFP
t
BSY
t
CPH
t
CWRS
t
CWRH
15
—
ns
CE
=
OE
= V
IL
,
WE
= V
IH
CE
= V
IL
,
WE
= V
IH
—
40
ns
1
5
—
μ
s
1
—
ms
50
—
ns
SC pulse width
20
—
ns
SC pulse low time
SC setup time for
CE
CDE
setup time for
WE
CDE
hold time for
WE
V
CC
to
RES
setup time
CE
setup time for
RES
RDY/
Busy
undefined for V
CC
off
RES
high to device ready
CE
pulse high time
CE
,
WE
setup time for
RES
RES
to
CE
,
WE
hold time
Note:
1. t
DF
is a time after which the I/O pins become open.
20
—
ns
0
—
ns
0
—
ns
20
—
ns
1
—
μ
s
μ
s
CE
= V
IH
1
—
0
—
ns
—
1
ms
200
—
ns
0
—
ns
0
—
ns
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