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參數(shù)資料
| 型號： | PM73487-PI |
| 廠商： | PMC-SIERRA INC |
| 元件分類： | 數(shù)字傳輸電路 |
| 英文描述： | 622 Mbps ATM Traffic Management Device |
| 中文描述： | ATM/SONET/SDH SUPPORT CIRCUIT, PBGA503 |
| 封裝： | EPBGA-503 |
| 文件頁數(shù)： | 85/251頁 |
| 文件大?。?/td> | 3126K |
| 代理商： | PM73487-PI |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁當前第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁第158頁第159頁第160頁第161頁第162頁第163頁第164頁第165頁第166頁第167頁第168頁第169頁第170頁第171頁第172頁第173頁第174頁第175頁第176頁第177頁第178頁第179頁第180頁第181頁第182頁第183頁第184頁第185頁第186頁第187頁第188頁第189頁第190頁第191頁第192頁第193頁第194頁第195頁第196頁第197頁第198頁第199頁第200頁第201頁第202頁第203頁第204頁第205頁第206頁第207頁第208頁第209頁第210頁第211頁第212頁第213頁第214頁第215頁第216頁第217頁第218頁第219頁第220頁第221頁第222頁第223頁第224頁第225頁第226頁第227頁第228頁第229頁第230頁第231頁第232頁第233頁第234頁第235頁第236頁第237頁第238頁第239頁第240頁第241頁第242頁第243頁第244頁第245頁第246頁第247頁第248頁第249頁第250頁第251頁
PM73487 QRT
PMC-Sierra, Inc.
PMC-980618
Issue 3
622 Mbps ATMTraffic Management Device
Released
Datasheet
73
4.3.10
Boundary Scan Signals
Table 18. Test Signals (8 Signal Pins)
Signal Name
Ball
Type
Drive/Input
Level
Slew
Rate
Description
/JTAG_RESET
C4
In
CMOS
JTAG Reset
is an active low, true asynchronous reset to the
JTAG controller.
JTAG_TCK
B5
In
CMOS
Scan Test Clock
is an independent clock used to drive the inter-
nal boundary scan test logic. Connect this signal to VDD
through a pull-up resistor.
JTAG_TDI
B4
In
CMOS
Scan Test Data Input
is the serial input for boundary scan test
data and instruction bits. Connect this signal to VDD through a
pull-up resistor.
JTAG_TDO
B3
Out
4 ma
Mod
Scan Test Data Output
is the serial output for boundary scan
test data.
JTAG_TMS
C5
In
CMOS
Scan Test Mode Select
controls the operation of the boundary
scan test logic. Connect this signal to VDD through a pull-up
resistor.
/TEST_MODE
D4
In
CMOS
This is a manufacturing test mode bit for manufacturing test. It
MUST be pulled up for functional mode on the board.
/SCAN_EN
E7
In
CMOS
Scan Test Enable
is used to enable the internal scan test logic.
Connect this signal to VDD through a pull-up resistor.
PROC_MON
T26
Out
N/A
N/A
Process Monitor
is used for manufacturing test. It is connected
to a NAND tree that may be used for VIL/VIH testing.
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| PM73487 | 622 Mbps ATM Traffic Management Device |
| PM73488-PI | 5 Gbit/s ATM Switch Fabric Element |
| PM73488 | 5 Gbit/s ATM Switch Fabric Element |
| PM7349 | Ultraframer DS3/E3/DS2/E2/DS1/E1/DS0 |
| PM7350 | Dual Serial Link, PHY Multiplexer |
相關代理商/技術參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| PM73488 | 制造商:PMC 制造商全稱:PMC 功能描述:5 Gbit/s ATM Switch Fabric Element |
| PM73488PI | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:Telecommunication IC |
| PM73488-PI | 制造商:Rochester Electronics LLC 功能描述: 制造商:PMC-Sierra 功能描述: |
| PM7349 | 制造商:PMC 制造商全稱:PMC 功能描述:Quad J2, E3 and DS-3 Framer |
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