參數(shù)資料
型號(hào)： DS2196LN
廠商： DALLAS SEMICONDUCTOR
元件分類： Digital Transmission Controller
英文描述： DATACOM, FRAMER, PQFP100
封裝： LQFP-100
文件頁(yè)數(shù)： 72/160頁(yè)
文件大?。?/td> 559K
代理商： DS2196LN
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DS2196
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Signal Name:
WR*( R/W*)
Signal Description:
Write Input (Read/Write)
Signal Type:
Input
WR* is an active low signal.
Signal Name:
JTCLK
Signal Description:
JTAG IEEE 1149.1 Test Serial Clock
Signal Type:
Input
This signal is used to shift data into JTDI on the rising edge and out of JTDO on the falling edge. If not
used, this pin should be pulled high.
Signal Name:
JTDI
Signal Description:
JTAG IEEE 1149.1 Test Serial Data Input
Signal Type:
Input
Test instructions and data are clocked into this signal on the rising edge of JTCLK. If not used, this pin
should be pulled high. This pin has an internal pull-up.
Signal Name:
JTDO
Signal Description:
JTAG IEEE 1149.1 Test Serial Data Output
Signal Type:
Output
Test instructions are clocked out of this signal on the falling edge of JTCLK. If not used, this pin should
be left open circuited.
Signal Name:
JTRST*
Signal Description:
JTAG IEEE 1149.1 Test Reset
Signal Type:
Input
This signal is used to synchronously reset the test access port controller. At power up, JTRST must be set
low and then high. This action will set the device into the boundary scan bypass mode allowing normal
device operation. If boundary scan is not used, this pin should be held low. This pin has an internal pull-
up.
Signal Name:
JTMS
Signal Description:
JTAG IEEE 1149.1 Test Mode Select
Signal Type:
Input
This signal is sampled on the rising edge of JTCLK and is used to place the test port into the various
defined IEEE 1149.1 states. If not used, this pin should be pulled high. This signal has an internal
pull-up.
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