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參數(shù)資料
| 型號： | DS21Q44T+ |
| 廠商： | Maxim Integrated Products |
| 文件頁數(shù)： | 77/105頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FRAMER ENHANCED E1 4X 128TQFP |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 72 |
| 控制器類型： | E1 調(diào)幀器 |
| 接口： | 并行/串行 |
| 電源電壓： | 2.97 V ~ 3.63 V |
| 電流 - 電源： | 75mA |
| 工作溫度： | 0°C ~ 70°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 128-LQFP |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 128-LQFP（14x20） |
| 包裝： | 管件 |
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DS21Q44
73 of 105
17. JTAG-BOUNDARY SCAN ARCHITECTURE AND TEST ACCESS PORT
17.1 Description
The DS21Q44 IEEE 1149.1 design supports the standard instruction codes SAMPLE/PRELOAD,
BYPASS, and EXTEST. Optional public instructions included with this design are HIGHZ, CLAMP,
and IDCODE. See Figure 17-1 for a block diagram. The DS21Q44 contains the following items which
meet the requirements set by the IEEE 1149.1 Standard Test Access Port and Boundary Scan
Architecture.
Test Access Port (TAP)
TAP Controller
Instruction Register
Bypass Register
Boundary Scan Register
Device Identification Register
The JTAG feature is only available when the DS21Q44 feature set is selected (FMS = 0). The JTAG
feature is disabled when the DS21Q44 is configured for emulation of the DS21Q43 (FMS = 1).
Details on Boundary Scan Architecture and the Test Access Port can be found in IEEE 1149.1-1990,
IEEE 1149.1a-1993, and IEEE 1149.1b-1994.
The Test Access Port has the necessary interface pins; JTRST, JTCLK, JTMS, JTDI, and JTDO. See the
pin descriptions for details.
Figure 17-1. BOUNDARY SCAN ARCHITECTURE
+V
Boundary Scan
Register
Identification
Register
Bypass
Register
Instruction
Register
JTDI
JTMS
JTCLK
JTRST
JTDO
+V
Test Access Port
Controller
MUX
10K
Select
Output Enable
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參數(shù)描述 |
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| DS21Q48A3N | 功能描述:網(wǎng)絡(luò)控制器與處理器 IC 5V Quad E1/T1/J1 Line Interface RoHS:否 制造商:Micrel 產(chǎn)品:Controller Area Network (CAN) 收發(fā)器數(shù)量: 數(shù)據(jù)速率: 電源電流（最大值）:595 mA 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:PBGA-400 封裝:Tray |
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