PEB 2447
Table of Contents
1
Overview
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .4
1.1
Features . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .4
1.2
Logic Symbol . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .5
1.3
General Device Overview . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .5
1.4
Pin Configuration . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .6
1.5
Pin Definitions and Functions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .6
2
Functional Description
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .11
2.1
General Operation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .11
2.2
Special Functions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .13
2.2.1
Control Memory Reset . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .13
2.2.2
Evaluate Frame Measurement Signal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .13
2.2.3
MTSXL Selftest . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .13
2.3
Boundary Scan and TAP Controller . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .14
2.3.1
Boundary Scan . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .14
2.3.2
TAP Controller . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .18
2.3.3
Use of Built in Selftest via the Boundary Scan Interface . . . . . . . . . . . . . . . .19
2.3.4
IDCODE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .22
3
Operational Description
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .23
3.1
Initialization Procedure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .23
3.2
Operation Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .23
3.3
Indirect Access Registers . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .23
3.4
Frame Evaluation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .24
3.5
Input Offset and Output Offset . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .25
3.6
Frame Delay . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .27
4
Detailed Register Description
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .32
4.1
Register Address Arrangement . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .32
4.2
Mode Register (MODR) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .33
4.3
Command Register (CMDR) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .34
4.4
Status Register (STAR) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .35
4.5
Interrupt Status Register (ISTA) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .36
4.6
Mask Register (MASK) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .37
4.7
Memory Access Address/Code Register High (MACH) . . . . . . . . . . . . . . . . .37
4.8
Memory Access Address Register Low (MAAL) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .38
4.9
Memory Read Data Register Low (MRDL) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .39
4.10
Memory Read Data Register High (MRDH) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .39
4.11
Memory Write Data Register Low (MWDL) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .39
4.12
Memory Write Data Register High (MWDH) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .40
4.13
Input Clock Shift Register Bank ICSR (15:0) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .41
4.14
Output Clock Shift Register (OSCR) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .42
4.15
Test Register (TSTR) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .42
4.16
Frame Evaluation Register Low (FERL) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .43
4.17
Frame Evaluation Register High (FERH) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .43
5
Electrical Characteristics
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .44
6
Package Outlines
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .51
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Semiconductor Group
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