參數(shù)資料
型號(hào)： 22004B
英文描述： ?lanSC520 User＇s Manual? 6.9MB (PDF)
中文描述： ？lanSC520用戶手冊(cè)？ 6.9MB（PDF格式）
文件頁數(shù)： 409/446頁
文件大?。?/td> 7069K
代理商： 22004B
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élanSC520 Microcontroller User’s Manual
26-1
CHAPTER
26
AMDebug
TECHNOLOGY
26.1
OVERVIEW
The élanSC520 microcontroller supports a full-featured, high-performance in-circuit emu-
lation capability. This in-circuit emulation support was developed at AMD specifically to
enable users to test and debug their software earlier in the design cycle. Utilizing this
capability, the software can be more extensively exercised, and at full execution speeds. It
also allows tracing during execution from the Am5
x
86 CPU’s internal cache.
The AMDebug interface included on the élanSC520 microcontroller provides the product
design team with two different communication paths, each of which is supported by powerful
debug tools from third-party vendors in AMD’s FusionE86 program. (See AMD FusionE86
partners documentation on p. iii under Third-Party Support.)
I
Serial AMDebug technology uses a serial connection based on an enhanced JTAG
protocol and an inexpensive 12-pin connector that can be placed on each board design.
This low-cost solution satisfies the requirement of a large number of software developers.
I
Parallel AMDebug technology uses a 25-pin parallel debug port to exchange commands
and data between the élanSC520 microcontroller and the host. The higher pin count
requires that the extra signal pins be provided on a special bond-out package of the
élanSC520 microcontroller; this package is made available only to tool developers such
as in-circuit emulator manufacturers. The parallel AMDebug port greatly simplifies the
task of supporting high-speed data exchange.
An on-chip trace controller provides trace information for reconstructing instruction execu-
tion flow in the processor. It supports tracing either to the serial AMDebug port, the bond-
out parallel port, or to an internal trace buffer.
Use of JTAG technology for conventional boundary scan testing is described in Chapter 25,
“Boundary Scan Test Interface”.
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參數(shù)描述
220-04E10-13PN 功能描述:環(huán)形MIL規(guī)格連接器 REAR MT JAM NUT WALL STANDARD ENV PINS RoHS:否 制造商:Amphenol MIL 類型:MIL-DTL-5015 系列:97 產(chǎn)品類型:Receptacles 外殼大小:28 外殼類型:Potting 觸點(diǎn)類型:Socket (Female) 位置/觸點(diǎn)數(shù)量:14 插入安排:28-2 觸點(diǎn)材料:Copper Alloy 觸點(diǎn)電鍍:Silver 安裝角:Straight 安裝風(fēng)格:Wire 端接類型:Solder 電流額定值:
220-04E10-13SN 功能描述:環(huán)形MIL規(guī)格連接器 REAR MT JAM NUT WALL STANDARD ENV SKTS RoHS:否 制造商:Amphenol MIL 類型:MIL-DTL-5015 系列:97 產(chǎn)品類型:Receptacles 外殼大小:28 外殼類型:Potting 觸點(diǎn)類型:Socket (Female) 位置/觸點(diǎn)數(shù)量:14 插入安排:28-2 觸點(diǎn)材料:Copper Alloy 觸點(diǎn)電鍍:Silver 安裝角:Straight 安裝風(fēng)格:Wire 端接類型:Solder 電流額定值:
220-04E10-4PN 功能描述:環(huán)形MIL規(guī)格連接器 REAR MT JAM NUT WALL STANDARD ENV PINS RoHS:否 制造商:Amphenol MIL 類型:MIL-DTL-5015 系列:97 產(chǎn)品類型:Receptacles 外殼大小:28 外殼類型:Potting 觸點(diǎn)類型:Socket (Female) 位置/觸點(diǎn)數(shù)量:14 插入安排:28-2 觸點(diǎn)材料:Copper Alloy 觸點(diǎn)電鍍:Silver 安裝角:Straight 安裝風(fēng)格:Wire 端接類型:Solder 電流額定值:
220-04E12-22PN 功能描述:環(huán)形MIL規(guī)格連接器 REAR MT JAM NUT WALL STANDARD ENV PINS RoHS:否 制造商:Amphenol MIL 類型:MIL-DTL-5015 系列:97 產(chǎn)品類型:Receptacles 外殼大小:28 外殼類型:Potting 觸點(diǎn)類型:Socket (Female) 位置/觸點(diǎn)數(shù)量:14 插入安排:28-2 觸點(diǎn)材料:Copper Alloy 觸點(diǎn)電鍍:Silver 安裝角:Straight 安裝風(fēng)格:Wire 端接類型:Solder 電流額定值:
220-04E12-8PN 功能描述:環(huán)形MIL規(guī)格連接器 REAR MT JAM NUT WALL STANDARD ENV PINS RoHS:否 制造商:Amphenol MIL 類型:MIL-DTL-5015 系列:97 產(chǎn)品類型:Receptacles 外殼大小:28 外殼類型:Potting 觸點(diǎn)類型:Socket (Female) 位置/觸點(diǎn)數(shù)量:14 插入安排:28-2 觸點(diǎn)材料:Copper Alloy 觸點(diǎn)電鍍:Silver 安裝角:Straight 安裝風(fēng)格:Wire 端接類型:Solder 電流額定值:
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