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參數(shù)資料
| 型號： | CS61884-IRZ |
| 廠商： | Cirrus Logic Inc |
| 文件頁數(shù)： | 14/72頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC LN INTERF T1/E1/J1 160-LFBGA |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 126 |
| 功能： | 線路接口單元（LIU） |
| 接口： | E1，J1，T1 |
| 電路數(shù)： | 8 |
| 電源電壓： | 3.14 V ~ 3.47 V |
| 功率（瓦特）： | 1.73W |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 160-LFBGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 160-TFGBA（13x13） |
| 包裝： | 散裝 |
| 包括： | AMI 編碼器和解碼器，B8ZS 編碼器和解碼器，HDB3 編碼器和解碼器，LOS 檢測 |
| 產(chǎn)品目錄頁面： | 759 (CN2011-ZH PDF) |
| 其它名稱： | 598-1717 |
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CS61884
DS485F3
21
3.8 JTAG Test Interface
3.9 Miscellaneous
SYMBOL
LQFP
LFBGA
TYPE
DESCRIPTION
TRST
95
G12
I
JTAG Reset
This active Low input resets the JTAG controller. This input
is pulled up internally and may be left as a NC when not
used.
TMS
96
F11
I
JTAG Test Mode Select Input
This input enables the JTAG serial port when active High.
This input is sampled on the rising edge of TCK. This input
is pulled up internally and may be left as a NC when not
used.
TCK
97
F14
I
JTAG Test Clock
Data on TDI is valid on the rising edge of TCK. Data on
TDO is valid on the falling edge of TCK. When TCK is
stopped high or low, the contents of all JTAG registers re-
main unchanged. Tie pin low through a 10 K
Ω resistor
when not used.
TDO
98
F13
O
JTAG Test Data Output
JTAG test data is shifted out of the device on this pin. Data
is output on the falling edge of TCK. Leave as NC when not
used.
TDI
99
F12
I
JTAG Test Data Input
JTAG test data is shifted into the device using this pin. The
pin is sampled on the rising edge of TCK. TDI is pulled up
internally and may be left as a NC when not used.
SYMBOL
LQFP
LFBGA
TYPE
DESCRIPTION
REF
94
H13
I
Reference Input
This pin must be tied to ground through 13.3 K
Ω 1% resis-
tor. This pin is used to set the internal current level.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
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