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參數(shù)資料
| 型號： | LM3S101 |
| 廠商： | Electronic Theatre Controls, Inc. |
| 英文描述： | Microcontroller |
| 中文描述： | 微控制器 |
| 文件頁數(shù)： | 34/284頁 |
| 文件大小： | 1774K |
| 代理商： | LM3S101 |
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LM3S101 Data Sheet
March 22, 2006
34
Preliminary
5
JTAG Interface
The Joint Test Action Group (JTAG) port is an IEEE standard that defines a Test Access Port and
Boundary Scan Architecture for digital integrated circuits and provides a standardized serial
interface for controlling the associated test logic. The TAP, Instruction Register (IR), and Data
Registers (DR) can be used to test the interconnections of assembled printed circuit boards and
obtain manufacturing information on the components. The JTAG Port also provides a means of
accessing and controlling design-for-test features such as I/O pin observation and control, scan
testing, and debugging.
The JTAG port is comprised of the standard five pins:
TRST
,
TCK
,
TMS
,
TDI
, and
TDO
. Data is
transmitted serially into the controller on
TDI
and out of the controller on
TDO
. The interpretation of
this data is dependent on the current state of the TAP controller. For detailed information on the
operation of the JTAG port and TAP controller, please refer to the
IEEE
Standard 1149.1-Test
Access Port and Boundary-Scan Architecture
.
The LMI JTAG controller works with the ARM JTAG controller built into the Cortex-M3 core. This is
implemented by multiplexing the
TDO
outputs from both JTAG controllers. ARM JTAG instructions
select the ARM
TDO
output while LMI JTAG instructions select the LMI
TDO
outputs. The
multiplexer is controlled by the LMI JTAG controller, which has comprehensive programming for
the ARM, LMI, and unimplemented JTAG instructions.
The JTAG module has the following features:
IEEE 1149.1-1990 compatible Test Access Port (TAP) controller
Four-bit Instruction Register (IR) chain for storing JTAG instructions
IEEE standard instructions:
–
BYPASS instruction
–
IDCODE instruction
–
SAMPLE/PRELOAD instruction
–
EXTEST instruction
–
INTEST instruction
ARM additional instructions:
–
APACC instruction
–
DPACC instruction
–
ABORT instruction
Integrated ARM Serial Wire Debug (SWD)
See the
ARM Cortex-M3 Technical Reference Manual
for more information on the ARM JTAG
controller.
相關PDF資料 |
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