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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | TFRA08C13 |
| 元件分類(lèi)： | 通信及網(wǎng)絡(luò) |
| 英文描述： | Ultraframer DS3/E3/DS2/E2/DS1/E1/DS0 |
| 中文描述： | Ultraframer DS3/E3/DS2/E2/DS1/E1/DS0 |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 105/188頁(yè) |
| 文件大小： | 3047K |
| 代理商： | TFRA08C13 |
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Lucent Technologies Inc.
105
Preliminary Data Sheet
October 2000
TFRA08C13 OCTAL T1/E1 Framer
Concentration Highway Interface
(continued)
Figure 42 and Figure 43 illustrate the CHI timing.
5-3916(F).d
Note: For case illustrated, RFE = 0, and RCE = 0.
Figure 42. Receive CHI (RCHIDATA) Timing
5-3917(F).d
Note: For case illustrated, TFE = 0 and TCE = 0.
Figure 43. Transmit CHI (TCHIDATA) Timing
CHICLK
CHIFS
RCHIDATA
t14S
t14H
t14S: CHIFS SETUP = 30 ns min
t15H
t14H: CHIFS HOLD = 45 ns min
t15S: RCHIDATA SETUP = 25 ns min
t15S
t15S: RCHIDATA HOLD = 25 ns min
CHICLK
CHIFS
TCHIDATA
t14S
t14H
t14S: CHIFS SETUP = 35 ns min
t19
t14H: CHIFS HOLD = 45 ns min
t19: CHICK TO TCHIDATA DELAY = 25 ns max
JTAG Boundary-Scan Specification
Principle of the Boundary Scan
The boundary scan (BS) is a test aid for chip, module,
and system testing. The key aspects of BS are as fol-
lows:
I
Testing the connections between ICs on a particular
board.
I
Observation of signals to the IC pins during normal
operating functions.
I
Controlling the built-in-self-test (BIST) of an IC.
TFRA08C13 does not support BS-BIST.
Designed according to the IEEE Std. 1149.1-1990
standard, the BS test logic consists of a defined
interface: the test access port (TAP). The TAP is made
up of four signal pins assigned solely for test purposes.
The fifth test pin ensures that the test logic is initialized
asynchronously. The BS test logic also comprises a 16-
state TAP controller, an instruction register with a
decoder, and several test data registers (BS register,
BYPASS register, and IDCODE register). The main
component is the BS register that links all the chip pins
to a shift register by means of special logic cells. The
test logic is designed in such a way that it is operated
independently of the application logic of the
TFRA08C13 (the mode multiplexer of the BS output
cells may be shared). Figure 44 illustrates the block
diagram of the TFRA08C13’s BS test logic.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| TFRA08C13 | Ultraframer DS3/E3/DS2/E2/DS1/E1/DS0 |
| TFS380C | VI TELEFILTER Filter specification |
| TFT0675F | Anti-Aliasing and Reconstruction TFT range |
| TFT0675S | Anti-Aliasing and Reconstruction TFT range |
| TFT1350F | Anti-Aliasing and Reconstruction TFT range |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| TFRA08C13-DB | 制造商:AGERE 制造商全稱(chēng):AGERE 功能描述:TFRA08C13 OCTAL T1/E1 Framer |
| TFRA28J133BAL-1 | 制造商:未知廠家 制造商全稱(chēng):未知廠家 功能描述:Telecomm/Datacomm |
| TFRA84J13 | 制造商:AGERE 制造商全稱(chēng):AGERE 功能描述:Ultraframer DS3/E3/DS2/E2/DS1/E1/DS0 |
| TFRA84J131BL-3-DB | 制造商:LSI Corporation 功能描述:Framer DS0/DS1/DS2/DS3/E1/E2/E3 1.5V/3.3V 909-Pin BGA |
| TFRA84J13DS0 | 制造商:AGERE 制造商全稱(chēng):AGERE 功能描述:Ultraframer DS3/E3/DS2/E2/DS1/E1/DS0 |
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