- 您現(xiàn)在的位置：買賣IC網(wǎng) > PDF目錄371435 > 28F1604C3 (Intel Corp.) 3 Volt Advanced+ Stacked Chip Scale Package Memory(3V閃速存儲(chǔ)器和靜態(tài)存儲(chǔ)器) PDF資料下載
參數(shù)資料
| 型號(hào)： | 28F1604C3 |
| 廠商： | Intel Corp. |
| 英文描述： | 3 Volt Advanced+ Stacked Chip Scale Package Memory(3V閃速存儲(chǔ)器和靜態(tài)存儲(chǔ)器) |
| 中文描述： | 3伏高級(jí)堆疊芯片級(jí)封裝存儲(chǔ)器（3V的閃速存儲(chǔ)器和靜態(tài)存儲(chǔ)器） |
| 文件頁數(shù)： | 28/64頁 |
| 文件大?。?/td> | 927K |
| 代理商： | 28F1604C3 |
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28F1602C3, 28F1604C3, 28F3204C3
22
Preliminary
0645_07
NOTE:
AC test inputs are driven at V
for a logic “1” and 0.0V for a logic “0.” Input timing begins, and output
timing ends, at V
CCQ
/2. Input rise and fall times (10%–90%) <10 ns. Worst case speed conditions are
when V
CCQ
= V
CCQ
Min.
0666_05
NOTE:
C
L
includes jig capacitance.
Figure 4. Input/Output Reference Waveform
INPUT
OUTPUT
TEST POINTS
V
CC
0.0
V
CC
2
V
CC
2
Figure 5. Test Configuration
Device
Under Test
Out
R
1
V
CCQ
C
L
R
2
Flash Test Configuration Component Values Table
Test Configuration
C
L
(pF)
R
1
(
)
R
2
(
)
2.7 V–3.3 V Standard Test
50
25K
25K
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
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